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標題石家莊艾沃士AWOS—SL02圖像冠層分析儀的原理和方法

   

提供者:石家莊艾沃士科技有限公司    發(fā)布時間:2012/7/18   閱讀次數(shù):512次 >>進入該公司展臺

 

AWOS—SL02圖像冠層分析儀
一、功能  
 廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù),葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。
二、原理和方法
 采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過冠層孔隙率的測定,計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
三、特點
1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)
2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)
3.手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭,
4.隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣,即時決定圖像的取舍
5.由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測,尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)
6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū),方位角可分10區(qū))。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時,可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件
7.通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上,可以在野外即時觀察圖像,選擇合理的測點,將圖像存貯。
8.半球圖象上可以設(shè)計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡,以及冠層內(nèi)任意時刻的受光狀況。
四、技術(shù)參數(shù)
1.鏡頭角度:150°
2.分辨率:768×494pix
3.測量范圍:天頂角由0°~75°(150°魚眼鏡頭)可分割成十個區(qū)域,方位角360°亦可分割成十個區(qū)域。
4.PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400~700nm。   測量范圍0~2700μmol/m2•s
5.分析軟件:專業(yè)AWOS-SL02軟件。
6.顯示和內(nèi)存:7英寸華碩筆記本。
7.電 池:電腦電池。
8.傳輸接口:USB
9.工作溫度:0~55℃

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