美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實(shí)驗。 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。 

工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一種對多余物檢驗的有效手段。其原理是利用振動臺產(chǎn)生一系列指定的機(jī)械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松 動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移。活動的多余物在產(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對產(chǎn)品殼體的滑動和撞擊的一個隨機(jī)組合過程。在這個過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。這兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經(jīng)前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測人員可以依據(jù)顯示的信號波形判定出信號性質(zhì)，以此得出檢測結(jié)論。

選型說明：每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括：控制器，振動臺，傳感器，靈敏度測試單元，軟件，示波器，電纜，耗材及相關(guān)文件。其型號選擇主要根據(jù)被測件的重量和外型尺寸而定，我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230振動臺可測負(fù)載重量，全頻率范圍內(nèi)為400克，換能器臺面直徑為22mm~150mm，換能器因在其中心區(qū)域50%面積處靈敏度最高，故實(shí)際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件最大扁平面面積。

產(chǎn)品型號：4511A（22mm臺面）4511L（50mm臺面）4511M（100mm臺面）4511M6（150mm臺面）4511L-R及4511M-R（寬脈沖）

設(shè)備用途：用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實(shí)驗。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。

適用領(lǐng)域：用于檢測集成電路、晶體管、電容器、及相關(guān)軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。

技術(shù)參數(shù)

振動規(guī)格：

頻率范圍：25至250Hz， 正弦曲線

其他振動模式：隨機(jī)極限，75至400Hz平坦頻率

自動階型頻率，40至250Hz

低頻率程序：最大振幅保護(hù)隨頻率變化

頻率分辨率：1Hz

時間：每個程序0.1至25.5秒

時間程序分辨率：0.1秒

振幅：0.1至25.50’G’峰值，4位數(shù)顯

振幅程序分辨率：0.1’G’

重復(fù)性：0.5’G’峰值，帶反饋控制

D.U.T.載荷：最大350g（整個范圍）

最大400g在60Hz

沖擊規(guī)格：

方法：沖擊臺反饋控制

自適應(yīng)D.U.T.載荷沖擊

振幅：100至2500’G’可編程

程序分辨率：10’G’

重復(fù)性：50’G’內(nèi)

脈沖寬度：<100微秒在50%振幅下

典型的是150-200微秒在10%振幅下

沖擊延遲：沖擊脈沖下降沿時間，從25至250微秒

D.U.T.載荷：振幅隨負(fù)載輕微下降

最大能力500克在1000g振幅下

 （可能需要改變程序值來加大載荷）

最大載荷規(guī)格：

振動臺極限：800克

振動極限：400克W/傳感器

沖擊極限：500克（可能需要增加程序值） 

電氣規(guī)格：

電源：100，120，220，240VAC+/-10% 在50/ 60 Hz可選

功耗：最大300瓦

額定功率放大：最大動態(tài)加載100w RMS