VIEW 系統(tǒng)提供適合手頭測(cè)量應(yīng)用的光學(xué)系統(tǒng)選擇。 VIEW Benchmark、Pinnacle 和 Summit 系統(tǒng)可配置單倍放大固定鏡頭光學(xué)系統(tǒng)或獨(dú)特的雙倍放大光學(xué)系統(tǒng)。這兩種布置都提供光學(xué)可互換的物鏡，以允許放大倍率和視場(chǎng)尺寸與被測(cè)量的特征相匹配。 單倍放大系統(tǒng)很簡(jiǎn)單，其光學(xué)分辨率與配備標(biāo)準(zhǔn)物鏡的 2.0 兆像素?cái)?shù)碼相機(jī)的像素尺寸非常匹配。該系統(tǒng)非常適合具有許多相似特征的零件的高速測(cè)量，對(duì)于這些零件，單次放大就足夠了。 雙倍放大系統(tǒng)利用兩條完整的光路，每條光路都有自己的相機(jī)。高倍率路徑是低倍率的 4 倍，提供瞬時(shí)變焦能力以獲得更高的光學(xué)分辨率。該系統(tǒng)非常適合測(cè)量不同特征需要寬視場(chǎng)和高精度的零件。雙倍放大系統(tǒng)也是需要佳自動(dòng)對(duì)焦性能的應(yīng)用的理想選擇。 兩種系統(tǒng)都可以與幾種相機(jī)型號(hào)（單色或彩色）中的一種搭配使用，這些型號(hào)將像素大小和密度與配置的鏡頭系統(tǒng)的光學(xué)分辨率相匹配�？捎玫墓鈱W(xué)和相機(jī)配置范圍允許 VIEW 為手頭的應(yīng)用優(yōu)化系統(tǒng)。 VIEW MicroLine systems for micro-fabricated part measurement use a semiconductor inspection microscope configured with a horizontal illuminator, multi-objective lens turret ａnd an appropriate selection of Bright Field or Bright Field / Dark Field objectives. MicroLine 系統(tǒng)有多種光學(xué)和相機(jī)配置可用，具體取決于要測(cè)量的零件的性質(zhì)。