問：我在一家公司做質(zhì)檢，操作一臺(tái)激光粒度分析儀，是測(cè)硅微粉粒度的，一般得到的圖形在粗端處都是很平滑的，最近做一批料子，曲線尾巴處會(huì)拖一個(gè)凸起的泡，排除是氣泡的可能性，那么是料子團(tuán)聚嗎？但將硅微粉超聲后仍然存在凸起，公司前輩說圖形尾巴多一個(gè)凸起是不對(duì)的，到最后應(yīng)該得到平滑的線，可是有些料子在曲線前端也會(huì)有凸起和凹處，那這些圖形如何解釋呢？粒度分布圖有個(gè)準(zhǔn)確的范圍嗎？
　　
    答：首先在粗粒部分出個(gè)小峰不能說一定是不對(duì)的，其實(shí)粉體生產(chǎn)是很難控制大粒部分上限的。硅微粉原來的規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)（以目為單位）其實(shí)是在粉體比較粗的情況下制定的。粗粉可在生產(chǎn)工藝中直接用篩網(wǎng)控制粗顆粒，在400目以下粉體一般無法再使用此工藝來控制。此時(shí)沿用目的標(biāo)準(zhǔn)不科學(xué)。你可以查查硅微粉的新標(biāo)準(zhǔn)，使用新標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)體系的話，根本不再關(guān)心上限部分一點(diǎn)小峰的問題。（標(biāo)準(zhǔn)號(hào)SJ/T10675-2002）
　　
    再回到那個(gè)粗粒小峰是否真實(shí)的問題上來，最直接的方法就是用顯微鏡看。我覺得很奇怪的是硅微粉生產(chǎn)企業(yè)其實(shí)很關(guān)心粉體粒徑上限，但非常多的企業(yè)卻連顯微鏡都沒有。激光粒度儀的測(cè)試原理決定了它不可能非常真實(shí)的反映極限粒徑。其它的沉降法儀器等類型的也做不到。