對(duì)于0.01μF以上的電容，必須根據(jù)容量的大小，分別選擇萬(wàn)用表的合適量程才能正確的加以判斷。如測(cè)300μF以上的電容，可選擇Rx10k檔或Rx1k檔，如測(cè)0.47~10uF的電容，可選擇Rx1k檔，如測(cè)0.01~0.47μF的電容，可選擇Rx10k檔等等。

  電容好壞，用萬(wàn)用表測(cè)量的方法是:指針式萬(wàn)用表選擇Rx1k檔或Rx100檔，黑表筆接電容器的正，紅表筆接電容器的負(fù)，若此時(shí)表針迅速向右擺動(dòng)，然后慢慢退回到接近無(wú)窮大(∞Ω)，說(shuō)明該電容正常，且容量較大;若返回時(shí)不到無(wú)窮大處，則說(shuō)明電容漏電流大且指針示數(shù)即為被測(cè)電容的漏電阻阻值(鋁電解電容的漏電阻應(yīng)超過(guò)200kQ才可使用);若指針根本不向右擺，則說(shuō)明電容內(nèi)部已斷路或電解質(zhì)已干涸而失去容量;若指針擺動(dòng)很大，接近09，且不返回，則說(shuō)明電容已被擊穿。

對(duì)于0.01μF以上的電容，必須根據(jù)容量的大小，分別選擇萬(wàn)用表的合適量程才能正確的加以判斷。如測(cè)300μF以上的電容，可選擇Rx10k檔或Rx1k檔，如測(cè)0.47~10uF的電容，可選擇Rx1k檔，如測(cè)0.01~0.47μF的電容，可選擇Rx10k檔等等。