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高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X
射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射.
儀器技術(shù)參數(shù)
分辨率: 30 kV，3.0 nm(高真空模式), 背散射電子分辨率30 kV，4.0 nm(高真空模式). 放大倍率: ×5
- ×300,000. 加速電壓0.3 - 30 Kv.
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
應(yīng)用領(lǐng)域
材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復(fù)合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大
小,材料物相分析。元素定性分析。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 16594-2008微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
原理
高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X
射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射.
儀器技術(shù)參數(shù)
分辨率: 30 kV，3.0 nm(高真空模式), 背散射電子分辨率30 kV，4.0 nm(高真空模式). 放大倍率: ×5
- ×300,000. 加速電壓0.3 - 30 Kv.
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
應(yīng)用領(lǐng)域
材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復(fù)合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大
小,材料物相分析。元素定性分析。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 16594-2008微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
原理
高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X
射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射.
儀器技術(shù)參數(shù)
分辨率: 30 kV，3.0 nm(高真空模式), 背散射電子分辨率30 kV，4.0 nm(高真空模式). 放大倍率: ×5
- ×300,000. 加速電壓0.3 - 30 Kv.
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
應(yīng)用領(lǐng)域
材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復(fù)合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大
小,材料物相分析。元素定性分析。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 16594-2008微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
原理
高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X
射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射.
儀器技術(shù)參數(shù)
分辨率: 30 kV，3.0 nm(高真空模式), 背散射電子分辨率30 kV，4.0 nm(高真空模式). 放大倍率: ×5
- ×300,000. 加速電壓0.3 - 30 Kv.
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
應(yīng)用領(lǐng)域
材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復(fù)合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大
小,材料物相分析。元素定性分析。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 16594-2008微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
專業(yè)、高效、精準(zhǔn)、高性價(jià)比是廣州化聯(lián)質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)有限公司的服務(wù)宗旨。
ICP-MS測(cè)試_ICP-MS檢測(cè)_電感耦合等離子體質(zhì)譜
測(cè)試：XPS SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外（py-ir）XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
ICP測(cè)試_ICP檢測(cè)_原子發(fā)射光譜測(cè)試服務(wù)
測(cè)試：xps SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外（py-ir）XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
XRD測(cè)試_XRD檢測(cè)_X射線衍射儀測(cè)試服務(wù)
測(cè)試：XPS SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外（py-ir）XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
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