
您的位置:首頁 > 產(chǎn)品展廳 > 商務(wù)服務(wù) > 技術(shù)服務(wù) > 檢測服務(wù) > ICP-MS測試_ICP-MS檢測_電感耦合等離子體質(zhì)譜
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008等
原理
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008等
原理
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
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原理
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
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原理
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008等
原理
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008等
原理
測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成
和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。
儀器技術(shù)參數(shù)
靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm(7700x);高質(zhì)量
數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)
檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt
氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)
雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0
同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
質(zhì)譜范圍:2-260 amu
豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7
送樣要求
固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以
下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶
劑、酸、堿種類)。
盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有
機物濃度小于3%。
金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬
礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等
半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.
食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等
其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.
常見適用標準
GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008等
測試:XPS SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外(py-ir)XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
ICP測試_ICP檢測_原子發(fā)射光譜測試服務(wù)
測試:xps SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外(py-ir)XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
測試:XPS SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外(py-ir)XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
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