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ICP-MS測試_ICP-MS檢測_電感耦合等離子體質(zhì)譜

ICP-MS測試_ICP-MS檢測_電感耦合等離子體質(zhì)譜

  • 價 格: 電議
  • 型號:
  • 生 產(chǎn) 地:中國大陸
  • 訪問:19次
  • 發(fā)布日期:2017/10/19(更新日期:2017/10/19)

廣州化聯(lián)質(zhì)量檢測技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品展示

測試:XPS SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 壓汞 吡啶紅外(py-ir)XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 紅外 元素分析儀 拉曼
  • 詳細內(nèi)容
  • 公司簡介
 原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

送樣要求

固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等

半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

常見適用標準

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

送樣要求

固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等

半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

常見適用標準

GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008

原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

送樣要求

固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等

半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

常見適用標準

GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008

 原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

送樣要求

固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等

半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

常見適用標準

GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008

 原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

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固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等

半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

常見適用標準

GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006,GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

送樣要求

固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)境試樣:如淡水、海水、巖石、土壤、污泥、固液廢棄物等

半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

常見適用標準

GB/T 15072.7-2008、GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009,GB/T8538-2008

 原理

測定每種化學元素的氣態(tài)原子或離子受激后所發(fā)射的特征光譜的波長及強度來確定物質(zhì)中元素組成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

儀器技術(shù)參數(shù)

靈敏度:低質(zhì)量數(shù) Li(7):50 Mcps/ppm;中質(zhì)量數(shù) Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高質(zhì)量

數(shù) Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

檢測限:低質(zhì)量數(shù)Be(9):0.5ppt;中質(zhì)量數(shù)In(115):0.1ppt;高質(zhì)量數(shù)Bi(209):0.1ppt

氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

質(zhì)譜范圍:2-260 amu

豐度靈敏度:低質(zhì)量端:5x10-7;高質(zhì)量端: 1x10-7 

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固體樣品,需提供100mg以上樣品,待測元素的含量必須小于0.1%,樣品應(yīng)烘干并磨碎至200目以

下。液體樣品,需提供2ml以上樣品,待測元素的濃度必須小于ppm級別,并注明介質(zhì)種類(何種溶

劑、酸、堿種類)。

盡可能注明樣品的主要成份及待測元素的預(yù)期含量。確保樣品酸度小于5%、含鹽度小于0.02%、有

機物濃度小于3%。

  金、鉑、鈮、鉭、鈀等稀有金屬礦石的工業(yè)品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS測試。其余金屬

礦物則不宜用ICP-MS來測試含礦元素(可送AAS或者XRF測試)。

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半導(dǎo)體的各種材料、試劑的痕量污染物分析:如試劑中痕量金屬元素分析,高純金屬的雜質(zhì)元素分析等.

食品分析:如奶粉、煙、酒、飲料、油、大米、小麥、肉類、魚類、火鍋底料等

其他分析:紡織品、化妝品、玻璃鍍層,陶瓷釉料,橡膠塑料等物質(zhì)中的金屬元素分析.

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本公司是一家專業(yè)從事化工材料領(lǐng)域的分析檢測、技術(shù)咨詢及技術(shù)服務(wù)的公司,我們聯(lián)合多所國家科研機構(gòu),目前公司擁有教授級高級工程師、博士及在外企研究員所組成的強大科研隊伍。它面向企業(yè)、高校、科研院所及社會各行,為廣大客戶提供專業(yè)、高效、實惠的分析測試、技術(shù)咨詢等服務(wù),公司提供的專業(yè)、高效、實惠的分析測試服務(wù)可以幫助客戶節(jié)省昂貴儀器費用,管控產(chǎn)品質(zhì)量,分析產(chǎn)品配方及加速產(chǎn)品研發(fā)。 測試服務(wù)項目表1、XPS(可做刻蝕XPS;UPS價帶譜)2、TEM(普通形貌、高分辨透射電鏡;可測磁性樣品TEM)3、SEM(場發(fā)射掃描電鏡;可測磁性樣品SEM,可噴金)4、BET(可測介孔、微孔材料比表面、孔容及孔徑分布等全套分析,也可做水蒸汽、有機氣體等蒸汽吸附)5、XRD(廣角XRD、小角XRD、掠入射XRD及原位XRD均可)6、AFM(原子力顯微鏡:塊體、粉末及液體樣品均可做)7、EPMA(電子探針測試,點、線、面均可測試)8、TPD(NH3-TPD,CO2-TPD,CO-TPD)9、TPR(H2-TPR)10、TG-DSC(低溫、高溫均可測試、有多種氣氛),TG-DTA11、PPMS(可測變溫電阻率RT曲線等)12、MPMS(VSM可測磁帶回線MH曲線、磁化率曲線MT曲線)13、ICP(ICP-MS,ICP-OES,可精確測量多種元素含量,可達ppb級,)14、ESR(ESR.EPR電子順磁測試,低溫、常溫、高溫ESR均可做)15、介電常數(shù)(變溫介電常數(shù))、熱電性能(塞貝克系數(shù)等)、鐵電性能測試16、CLSM 激光共聚焦掃描顯微鏡17、3D輪廓儀,臺階儀18、馬爾文激光粒度儀(干法、濕法)19、GPC(THF,DMF,氯仿相GPC,水相GPC,高溫GPC)20、壓汞測試21、TG-IR22、GC-MS/LCMS23、GPC(THF,DMF,CHCL3,水相)24、核磁25、質(zhì)譜26、元素分析(CHNSO)27、Ramnm拉曼光譜28、納米粒度儀29、TOC測試儀30、水分檢測儀還可提供:導(dǎo)熱系數(shù)、熱膨脹系數(shù)、塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)、固體紫外(紫外漫反射),紅外(有ATR配件),熒光PL、拉曼(多種激發(fā)波長)等測試 聯(lián)系方式: 張工 TEL:18814370534 QQ:180161075
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