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CMI900(X射線鍍層測厚儀)
OSPrey800儀器利用光譜分析原理無損檢測OSP鍍層厚度。無需準(zhǔn)備樣品,可實(shí)時(shí)檢測實(shí)際產(chǎn)品上的OSP鍍層厚度。 OSPrey800儀器在檢測過程中不會對PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過進(jìn)行
手持式X射線熒光光譜儀--快速、可靠地進(jìn)行RoHS篩 選分析X-MET5000僅需使用一臺儀器便可實(shí)現(xiàn)對所有材料的篩選分析此簡單易用的手持式能量色散型X射線熒光光譜儀可以為塑料、印制線路板、電纜、塑料
X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器,能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保極佳的信/躁比,從而降低檢測下限。探測器分辨率極
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