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X-Strata980(X熒光鍍層測(cè)厚及痕量元素分析儀)
CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測(cè)量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量 ,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。行業(yè)用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽
OSPrey800儀器利用光譜分析原理無損檢測(cè)OSP鍍層厚度。無需準(zhǔn)備樣品,可實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上的OSP鍍層厚度。 OSPrey800儀器在檢測(cè)過程中不會(huì)對(duì)PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過進(jìn)行
手持式X射線熒光光譜儀--快速、可靠地進(jìn)行RoHS篩 選分析X-MET5000僅需使用一臺(tái)儀器便可實(shí)現(xiàn)對(duì)所有材料的篩選分析此簡(jiǎn)單易用的手持式能量色散型X射線熒光光譜儀可以為塑料、印制線路板、電纜、塑料
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