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布魯斯特角顯微鏡BAM2plus

布魯斯特角顯微鏡

  • 價(jià) 格: 電議
  • 型號(hào):BAM2plus
  • 生 產(chǎn) 地:德國(guó)
  • 訪問(wèn):1263次
  • 發(fā)布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

源順科技儀器有限公司

  • 提示:如果您未采購(gòu)滿意的產(chǎn)品,請(qǐng)?jiān)诰W(wǎng)頁(yè)頭部搜索更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品
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德國(guó)Nanofilm公司于1991年開(kāi)發(fā)出了世界上第一臺(tái)Brewster角顯微鏡(BAM),該儀器主要用于薄層膜的觀察。其最新款的EP3橢圓偏振成相系統(tǒng)把橢圓偏振法與顯微鏡法相結(jié)合。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
  • 公司簡(jiǎn)介
功能應(yīng)用

BAM2plus薄膜圖像系統(tǒng)是一種完全由計(jì)算機(jī)控制、采用發(fā)動(dòng)機(jī)控制電路專利技術(shù)的系統(tǒng),可在計(jì)算機(jī)屏幕直接實(shí)時(shí)圖像及進(jìn)行圖像處理。目鏡掃描器提供的擴(kuò)展景深可實(shí)現(xiàn)全聚焦圖像。高功率綠色激光與出色的目鏡組合保證了極高的分辨率(橫向1微米),接近于這項(xiàng)技術(shù)的物理極限。基于Windows95/98/2000的軟件使操作簡(jiǎn)單方便。作為一種完全解決方案,BAM2plus系統(tǒng)本身已包括計(jì)算機(jī)、電子設(shè)備及所需的軟件,可在您現(xiàn)有的槽或在我們集成的NIMA的槽上立即工作。

應(yīng)用

觀察單層相l(xiāng) 微區(qū)和有序現(xiàn)象
單層向多層結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變
光化學(xué)反應(yīng),如感光異構(gòu)l 固體結(jié)構(gòu)上的LB膜
各種亞混合物對(duì)單層結(jié)構(gòu)的影響
不能被熒光顯微鏡檢測(cè)檢測(cè)到的聚合物或其它材料
表面吸附動(dòng)力學(xué)
單相的現(xiàn)場(chǎng)聚會(huì)
相分離
LB膜均勻性質(zhì)量
主要特點(diǎn)

MiniBAMplus易用微型Brewster角顯微鏡( PC成像系統(tǒng))與b/w視頻控制器相比,MiniBAMplus配有PC和用于圖像獲取及分析的專用軟件

可選附屬設(shè)備及附件

3.5”磁光學(xué)圖像存儲(chǔ)的驅(qū)動(dòng)器
模擬信號(hào)輸入A/D (如同時(shí)存儲(chǔ)當(dāng)前的表面壓力與圖像)
強(qiáng)光源或可連外部光源的光纖
升級(jí)到Elli2000u 可轉(zhuǎn)換目鏡
安裝前附加軟件包
圖像打印解決方案(激光和彩色打印機(jī))
塵埃保護(hù)與安全箱
安裝前網(wǎng)絡(luò)適配器
技術(shù)參數(shù)

控制系統(tǒng)

軟件
用戶 Windows2000 圖形界面

計(jì)算機(jī)
高性能 PC , 19” 顯示器

光學(xué)系統(tǒng)

光源
高強(qiáng)綠色 Nd:YAG 激光 〉20 mW @532nm (〉50 mW 可選 )

調(diào)節(jié)器
可連續(xù)調(diào)節(jié)激光強(qiáng)度 1-100 %

目鏡
數(shù)值孔徑 0.21 (0.35 可選 ) ,工作距離 20mm ,高質(zhì),可調(diào)

空間分辨率
2 微米 ( 1 微米可選

掃描儀
過(guò)焦成像目鏡,計(jì)算機(jī)控制

視野
寬約 0.5 ( 0.25 )mm ( 高度 = 寬度 x 0.75 / cosα) ( α= 入射角 )

角度
45°-- 80°

偏光系統(tǒng)
高質(zhì) Glan-Thomson 及薄膜偏光器

力學(xué)系統(tǒng)

測(cè)角計(jì)
自動(dòng)化, 45°- 80°, 0.01° 精度

分析儀 / 偏光儀
微精自動(dòng)化
旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)

垂直升降 ( z 升降 )
自動(dòng)垂直定位

底托
靈活,可定制帶水準(zhǔn)測(cè)量螺桿的底托

圖象處理系統(tǒng)

照相機(jī)
計(jì)算機(jī)控制,高級(jí) CCD 照相機(jī) (768 x 572 個(gè)象素 )
可變電子快門(mén)調(diào)速及增益控制
CCIR 標(biāo)準(zhǔn) ( 可采用 EIA)

圖像捕捉
科研級(jí) PCI 總線設(shè)計(jì)
實(shí)時(shí)電腦顯示抓圖器 (1280 x 1024 象素 )

圖像處理
--” 目鏡掃描儀 ” 模塊提供過(guò)焦成像
-- 各種專用圖像處理功能 ( 調(diào)整大小, 輪廓,過(guò)濾,背景補(bǔ)償?shù)?)
-- 在硬盤(pán)上存儲(chǔ)圖像



源順國(guó)際有限公司

源順國(guó)際有限公司是一家專門(mén)從事納米科技,材料分析,光電產(chǎn)品檢測(cè)及生產(chǎn)設(shè)備銷售和技術(shù)咨詢的高科技公司。我們獨(dú)家代理具有世界先進(jìn)水平的分析儀器,產(chǎn)品涵蓋了微觀結(jié)構(gòu)觀察,物理性能,力學(xué)性能及電磁學(xué)性能。
Total Solution ,為客戶提供整體解決方案,是源順公司一貫堅(jiān)持的宗旨。 這個(gè)宗旨象征高新科技、品質(zhì)與客戶服務(wù),并將在新的世紀(jì)中,全面提升服務(wù)品質(zhì)以伴隨您的闊步發(fā)展。
源順公司秉持企業(yè)文化:『誠(chéng)信』、『品質(zhì)』、『服務(wù)』、『團(tuán)隊(duì)』、『創(chuàng)新』,本著其宗旨『Total Solution』,繼續(xù)將最先進(jìn)的技術(shù),以最佳的成本效益,提供客戶最優(yōu)質(zhì)的精密分析儀器和生產(chǎn)設(shè)備,并堅(jiān)持最完美的服務(wù)。

公司產(chǎn)品主要有:
LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀
Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
Scinco公司: 可見(jiàn)光及紫外光光度計(jì)(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在線粘度計(jì)。
ProRheo公司: 高階粘度計(jì)。
Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
AET 公司: 微波誘電分析儀
NANOFILM公司: 呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術(shù)。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
Capres公司: MRAM,寫(xiě)磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (數(shù)字全析顯微鏡)
BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。
OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封裝應(yīng)變,3D熱機(jī)械變形及CTE分析)。
Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系統(tǒng)。


源順國(guó)際公司總部設(shè)在香港,在上海和北京設(shè)立了分公司,深圳和成都設(shè)立了辦事處,并有強(qiáng)大的技術(shù)和維修隊(duì)伍,為客戶提供最高水平的產(chǎn)品和服務(wù)。

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