
您的位置:首頁 > 產(chǎn)品展廳 > 儀器儀表 > 光學(xué)儀器 > 顯微鏡 > WET-SPM系列可控氣氛掃描探針顯微鏡
從SEM觀察到EDX分析都可輕松操作的SEM-EDX一體化系統(tǒng)。從樣品表面觀察到元素分析,在一個(gè)監(jiān)視器上簡便地操作。
5軸馬達(dá)樣品驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),可使用鼠標(biāo)進(jìn)行簡單操作,是通用級(jí)的SEM。即使是非電導(dǎo)性材料也可免鍍觀察。備有低加速觀察功能(標(biāo)準(zhǔn))和低真空觀察功能(選配)。
掃描探針微鏡可在大氣中簡單地進(jìn)行高放大倍率的表面觀察,并可直接觀察非導(dǎo)電性樣品,可精確測定樣品表面的高程差。探針尖端可測定樣品的物理性質(zhì)。追加可控氣氛分析室可升級(jí)為可控氣氛SPM。
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