特點

激光反射式檢測工作模式

AFM接觸式形貌測量，原子力曲線采集顯示

STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測量功能

特殊設(shè)計液體池，具備液體中AFM成像能力

深度陡度測量，三維顯示

納米材料粗糙度測量，顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計

實時觀測比照的形貌圖、摩擦力圖、靜電力圖、磁力圖

實時多通道剖面圖顯示

為教學(xué)和研究設(shè)計，國內(nèi)小型化結(jié)構(gòu)，攜帶十分方便

DSP全數(shù)字化控制，操作簡潔直觀

控制主機可以采用筆記本電腦，適合課堂現(xiàn)場演示

XY二維樣品移動平臺，快速搜索感興趣的樣品區(qū)域

步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(STM自動保護針尖)

Windows全中文控制軟件，面向?qū)ο笤O(shè)計

提供實驗標(biāo)準(zhǔn)光柵、云母和HOPG樣品

配有詳盡的實驗教學(xué)指導(dǎo)教程

組合光學(xué)連續(xù)變倍顯微鏡，獨特的雙光路照明，樣品觀測范圍從1nm到20mm

360°全方位彩色CCD成像系統(tǒng)，方便系統(tǒng)調(diào)整，可實時樣品錄像

標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口或USB接口，無需任何計算機卡，安裝簡單迅速

技術(shù)指標(biāo)

探頭：

樣品尺寸：≤Φ30mm

樣品厚度：≤15mm

XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，

20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μm

XY向分辨力：0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)

Z向分辨力：0.03nm(AFM,云母定標(biāo))，0.01nm(STM,HOPG定標(biāo))

XY二維樣品移動平臺范圍：0~5mm，精度0.5μm

步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(STM自動保護針尖)

僅需更換探針架，即可切換STM和AFM模式

電化學(xué)針尖塊，液體池，液體成像功能(選配)

44～283X連續(xù)變倍彩色CCD觀察顯微系統(tǒng)(選配)

全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)

精密隔震平臺(選配)

極限真空度：10-6托(NanoFirst-2200型)

抽速：每分鐘40升(NanoFirst-2200型)

電子學(xué)控制器：

XYZ控制：18-bit D/A

數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D 、16-bit A/D多路同步采樣

Z向反饋：DSP數(shù)字反饋

反饋采樣速率：64.0kHz

高壓放大器：集成高壓運算放大器，最大電壓范圍±150V

最大掃描速率：21Hz

掃描角度：0~360°

掃描偏移：任意

圖像采樣點：256×256或512×512

步進馬達控制：手動和自動進退

計算機接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232串行口/USB

計算機軟件：

運行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面

AFM接觸模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能

STM恒流模式、恒高模式功能(STM)

多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖

智能識別和控制系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)

DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集

AFM激光檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能

原子力-間距（F-Z）曲線測量功能

電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測量功能(STM)

隧道電流-間隙（I-Z曲線）測量功能(STM)

靜電力成像模式功能（選配）

磁力成像模式功能（選配）

支持步進馬達自動驅(qū)進到掃描器中心

支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正

樣品傾斜度線平均、偏置實時校正功能

實時調(diào)整本底及比例

定點實時測試I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)功能

鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能

用戶任意定義調(diào)色板功能

圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能

圖像在線瀏覽，連續(xù)圖像獲取文件動態(tài)重現(xiàn)，納米電影功能

圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）

完備的在線式智能提示及全程幫助

樣品粒度、粗糙度分析

標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能

增加第二顯示器（選配）