標題2010年直流高壓發(fā)生器闡述

提供者：寶應(yīng)中測電氣設(shè)備廠發(fā)布時間：2010/11/9 閱讀次數(shù)：983次 >>進入該公司展臺

淡談直流高壓發(fā)生器技術(shù)的2010發(fā)展闡述

電氣設(shè)備的檢修應(yīng)實行根據(jù)設(shè)備實際狀況進行的“狀態(tài)維修”。只有充分了解絕緣老化的規(guī)律，有針對性地對一些靈敏反映絕緣老化的物理或邏輯參量進行間斷或連續(xù)的在線監(jiān)測，才有可能真正實現(xiàn)狀態(tài)維修。
　絕緣擊穿機理的一些探討

　　氣體放電領(lǐng)域中湯遜放電理論和流注放電理論比較成熟，在實踐上也有很好的應(yīng)用。液體中的擊穿早在本世紀初即有研究，但其理論成就不及氣體和固體。文［6］對純凈液體電介質(zhì)分別施加沖擊電壓和緩變電壓研究后認為，液體介質(zhì)的擊穿過程主要應(yīng)包含如下四個階段：金屬電極場致發(fā)射或介質(zhì)中的強場電離導(dǎo)致帶電粒子和空間電荷區(qū)形成的階段；帶電粒子的摩擦運動造成溫度升高，低密度區(qū)形成并向?qū)γ骐姌O擴散的電熱階段；在低密度區(qū)形成氣體放電通道，液體分子鍵被打破，各種自由基和離子形成的氣體放電階段；放電熄滅，溫度降低，自由基及離子重新組合的物理—化學(xué)階段。其中電極上發(fā)生的過程作為第一階段十分重要，t.j.lewis1984年在ieeeei上提出，介質(zhì)中早期形成的擊穿通道尺寸在分子水平常與金屬表面有關(guān)，因此應(yīng)重點在分子水平上考慮電極上可能的電－化學(xué)過程。這與文［6］的觀點是一致的。對于非自恢復(fù)的絕緣介質(zhì)，電樹枝的形成和生長受到很大的重視，因為電樹枝的發(fā)展通常被認為是絕緣將出現(xiàn)短期擊穿的征兆。有研究者認為，固體介質(zhì)中電樹枝是在場強集中處發(fā)生了局部擊穿并沿電場方向逐漸擴散的結(jié)果。電樹枝的生長對機械應(yīng)力和振動敏感。在選擇絕緣材料或進行絕緣系統(tǒng)的設(shè)計時，應(yīng)充分考慮材料抵抗機械裂紋快速傳播的能力，盡量避免機械應(yīng)力的集中。
　　
　絕緣材料的老化
　　熱老化
高壓電氣設(shè)備運行中產(chǎn)生的熱量導(dǎo)致絕緣的溫度升高。1930年v.m.montsinger首次提出了絕緣壽命與溫度之間的經(jīng)驗關(guān)系即10℃規(guī)則，認為溫度每升高10℃則絕緣壽命約減半。但實際上，不同絕緣的老化速度應(yīng)該不同，因此10℃規(guī)則不能簡單地應(yīng)用于所有的絕緣系統(tǒng)。1985年epri針對不同等級的電機絕緣得出的研究結(jié)果見表1。
　　
　　1948年dakin提出的新觀點認為熱老化實為有聚合鏈分裂等作用的氧化效應(yīng)，本質(zhì)為一種化學(xué)反應(yīng)過程，因此應(yīng)當遵循化學(xué)反應(yīng)速率方程lnl＝lna＋b/t，其中，a、b分別是由特定老化反應(yīng)所決定的常數(shù)，l為絕緣壽命，t為絕對溫度。該方程的提出，為高溫加速老化試驗及試驗結(jié)果的外推提供了理論依據(jù)，彌補了montsinger10℃規(guī)則難以區(qū)分不同條件下老化的差異的缺點。
電老化
　　
　　絕緣在電場應(yīng)力作用下的老化行為，尚無定量化描述的理論公式。通常普遍采用倒數(shù)冪關(guān)系的經(jīng)驗公式l=k/en來表示絕緣在外施電場下的老化規(guī)律［1，2］，其中e為外加電場，k為試驗確定的常數(shù)，與具體的絕緣系統(tǒng)或材料有關(guān)，n為電壓耐受系數(shù)，須在一定的電壓和溫度下試驗確定。
　　
不少研究者認為，當外施電壓低于絕緣的局部放電起始放電電壓時，材料就不會發(fā)生由電場所引起的老化［8］。文［3］通過建立熱—電應(yīng)力聯(lián)合作用下的絕緣概率壽命模型，發(fā)現(xiàn)在溫度確定的條件下，絕緣材料的壽命曲線趨向一電場閾值et，當絕緣承受的外加電場低于或接近該電場閾值時，其壽命將趨于無窮。這一臨界電場值可通過對擊穿時間與外施電場大小的weibull統(tǒng)計分析得出［4］。這種存在電場臨界值的觀點與經(jīng)驗和直覺比較一致。通常認為電氣擊穿強度是評價絕緣老化的一個最根本的屬性，當外施電場遠低于材料的擊穿強度時，相當于材料具有非常高的耐電強度，此時絕緣材料將在非常長的時間內(nèi)耐受該電場而不出現(xiàn)擊穿。
　　
　　對于上述閾值電場的存在，也有持不同觀點的［1］。arminbruning通過對氣穴中空氣從亞電暈（sub-corona）到強烈電暈（intense-corona）過渡過程中非線性電導(dǎo)率的理論計算和實測數(shù)據(jù)表明，低電壓下的微小亞電暈電流將引起氣穴中氣體和氣穴表面溫度的升高。隨電壓的提高，亞電暈放電形式向強烈電暈放電形式轉(zhuǎn)化，放電源的溫度將不斷上升。以上現(xiàn)象說明絕緣介質(zhì)在外施電場作用下的老化是一個連續(xù)的過程，不存在任何明顯影響老化進程的電場閾值。通過測量氣穴表面的溫升有可能利用arrhenius方程在氣體空腔這樣的微小區(qū)域水平上評價絕緣的老化。該觀點如被更多的實驗證實，將因其物理過程清晰，測量方法明確，可能具有更大的說服力。但是這種觀點似乎不好解釋進行交流耐壓等試驗中電壓升高到一定程度時，普遍觀察到的電流急劇上升現(xiàn)象。相比之下，閾值壽命模型更能為經(jīng)驗所接受，且較能體現(xiàn)其對絕緣設(shè)計的指導(dǎo)作用。
　　3多應(yīng)力聯(lián)合老化
　　
　　經(jīng)驗表明，絕緣老化的程度和老化的速率依材料的物理、化學(xué)特性，外施應(yīng)力的類型和持續(xù)時間，生產(chǎn)過程中采用的工藝而定，故需對絕緣材料在上述應(yīng)力的多種組合作用下的老化行為及各種應(yīng)力的協(xié)同作用進行廣泛深入的研究以求其老化規(guī)律。
　　
　　電—熱聯(lián)合應(yīng)力老化是目前研究中采用最多的一種應(yīng)力組合方式。建立老化壽命模型主要的手段是將電老化反冪形式經(jīng)驗公式l=ke－n和熱應(yīng)力老化的arrhenius方程l=aexp（b／t）統(tǒng)一起來。而得到絕緣壽命—外施電場—溫度之間的關(guān)系。l（t，e）=k（t）e－n（t）exp（b／t）為ramu得出的電—熱聯(lián)合應(yīng)力下的壽命方程［2］，k和電壓耐受系數(shù)n成為溫度的函數(shù)。
　
　　基于觀察到的“低密度區(qū)”并利用電子平均自由程概念對氣體、液體和固體的擊穿過程進行研究后［7］提出，這三種狀態(tài)下介質(zhì)的擊穿過程具有相同之處，即擊穿發(fā)生時沿放電路徑上介質(zhì)局部密度的波動規(guī)律相同。這有可能為分別研究氣體、液體或固體絕緣之一的學(xué)者提供相互探討和借鑒的機會，有利于直接借助較為成熟的氣體放電研究成果，促進固、液體絕緣研究向前發(fā)
以試驗研究為基礎(chǔ)的應(yīng)用技術(shù)，主要研究在直流高壓發(fā)生器技術(shù)中占有格外重要的地位。常見的直流高壓發(fā)生器發(fā)生裝置有：①由工頻試驗變壓器及其調(diào)壓設(shè)備等組成的工頻試驗設(shè)備。②模擬雷電過電壓或操作過電壓的沖擊電壓發(fā)生裝置。③利用高壓硅堆等作為整流閥的高壓直流發(fā)生裝置。進行直流高壓發(fā)生器試驗需要有正確的試驗方法，如耐壓試驗、介質(zhì)損耗試驗、局部放電試驗等。對不同類型的直流高壓發(fā)生器需采用不同的測量裝置。如測量直流電壓或低頻交流電壓的有效值用高壓靜電電壓表；測單次短脈沖用高壓示波器。常用的直流高壓發(fā)生器測量裝置還有各種分壓器、分流器、局部放電儀等。60年代以后，光電測試技術(shù)引入直流高壓發(fā)生器領(lǐng)域，避免了直流高壓發(fā)生器傳到低電壓的測量系統(tǒng)而引起的危險和電磁場對低電壓測量系統(tǒng)的干擾。
發(fā)展趨勢60年代后期以后，直流高壓發(fā)生器技術(shù)在電工以外的領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用，同時也不斷采用新技術(shù)以發(fā)展自身。前者主要指直流高壓發(fā)生器技術(shù)在粒子加速器、大功率脈沖發(fā)生器、受控?zé)岷朔磻?yīng)研究、磁流體發(fā)電、靜電噴涂、靜電復(fù)印等方面的應(yīng)用；后者包括利用電子計算機計算電力系統(tǒng)的暫態(tài)過程和變電所的波過程，利用激光技術(shù)進行直流高壓發(fā)生器下大電流的測量等。另一方面，直流高壓發(fā)生器技術(shù)對于進一步發(fā)展超高壓、特高壓輸電以及高壓直流輸電繼續(xù)起著重要的推動作用。此外，美國、前蘇聯(lián)的一些學(xué)者還利用電力電子技術(shù)的新成就，對現(xiàn)有的超高壓電網(wǎng)進行技術(shù)改造和擴大傳輸容量的研究。
　　電力設(shè)備中很多因素產(chǎn)生機械應(yīng)力，主要有設(shè)備旋轉(zhuǎn)部分的振動或絕緣結(jié)構(gòu)中介質(zhì)部分與金屬導(dǎo)體部分熱膨脹系數(shù)不同而引起的周期性應(yīng)力［1］以及絕緣材料承受的交變電場力等。機械應(yīng)力的破壞主要表現(xiàn)為絕緣材料疲勞而產(chǎn)生裂紋或氣穴，誘發(fā)電樹枝的形成和生長。對于旋轉(zhuǎn)電機等設(shè)備，其絕緣同時遭受電、熱及機械應(yīng)力的作用且都是占主導(dǎo)地位的應(yīng)力。因此，研究相應(yīng)固體絕緣材料在上述聯(lián)合應(yīng)力作用下的性能非常重要。
　
　　對于運行在濕度較大的環(huán)境中的設(shè)備，濕度對絕緣材料尤其是潮氣敏感材料（如聚酯等）老化過程的影響不可忽視。dixon對封閉電氣設(shè)備中這類材料的研究得出了該情形下絕緣壽命與溫度、濕度的函數(shù)關(guān)系［5］。在一定的范圍內(nèi)對不同的溫度和濕度進行換算可得出在改變了的溫度及濕度下絕緣的累積等效壽命。
　　
　　有學(xué)者認為，從本質(zhì)上來看，影響絕緣老化的最主要因素如電、熱、機械應(yīng)力、潮氣及輻射等，都以化學(xué)反應(yīng)的形式作用于絕緣材料，因此，在化學(xué)反應(yīng)速率方程的基礎(chǔ)上，應(yīng)當能夠找到一種統(tǒng)一的形式來表示多應(yīng)力下絕緣的老化規(guī)律�！　�
　　絕緣在正常工作應(yīng)力下的壽命，絕大多數(shù)是將加速老化試驗結(jié)果向正常應(yīng)力下外推得到的。加速試驗外推的真實性和等效性受到持統(tǒng)計學(xué)觀點的研究者的懷疑，而dakin認為，在可靠的理論基礎(chǔ)上進行的外推總比缺乏數(shù)據(jù)，不能獲得任何信息好。但有的試驗如高頻加速老化試驗與工頻下有很大不同，無法向工頻外推，這是要妥善解決的問題。
電力系統(tǒng)過電壓及其限制研究電力系統(tǒng)中各種過電壓，以便合理確定其絕緣水平是直流高壓發(fā)生器技術(shù)的重要內(nèi)容。電力系統(tǒng)的過電壓包括外過電壓（又稱雷電過電壓）和內(nèi)過電壓。一般雷電過電壓幅值遠超過系統(tǒng)的額定工作電壓，但作用時間較短，平均波長時間為30微秒。雷擊除了威脅輸電線路和電工設(shè)備的絕緣外，還會危害高建筑物、通信線路、天線、飛機、船舶、油庫等設(shè)施的安全。因此，這些方面的防雷也屬于直流高壓發(fā)生器技術(shù)的研究對象。電力系統(tǒng)內(nèi)過電壓是因正常操作或故障等原因使電路狀態(tài)或電磁狀態(tài)發(fā)生變化，引起電磁能量振蕩而產(chǎn)生的。其中衰減較快、持續(xù)時間較短的稱為操作過電壓；無阻尼或弱阻尼、持續(xù)時間長的稱為暫態(tài)過電壓。對110～220千伏電力系統(tǒng)，內(nèi)過電壓水平一般取3倍最大工作電壓；對330～500千伏電力系統(tǒng)，取2～2.5倍；對特高壓電力系統(tǒng)，完全有可能將過電壓限制到1.5～1.8倍

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