
您的位置:首頁 > 技術(shù)文獻 > > 三坐標(biāo)的發(fā)展趨勢
從整體上考察,近年來無論哪類精密測頭主要向著精度更高、尺寸更小、互換性更好、綜合功能更強、數(shù)字化的方向發(fā)展。
由于觸發(fā)式測頭成本低、結(jié)構(gòu)簡單,并能滿足常用的測量要求,在一定時期內(nèi)仍是市場上應(yīng)用最多的測頭,其發(fā)展方向是尺寸小、集成度高、精度高、各向異性小.目前,占據(jù)了該類測頭全世界90%的市場,在近期內(nèi)這種狀況還不會改變。
目前的掃描式測頭,因結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積大、價格昂貴,影響了其普及應(yīng)用。掃描式測頭的發(fā)展方向就是在不影響其精度和掃描速度的同時,研制結(jié)構(gòu)簡單、成本低的新型、高精度掃描式測頭。另外,具有較大量程、能伸入小孔、用于測量微型零件的測頭也在發(fā)展。特別指出,具有納米分辯率的微測頭是一個重要研究方向。而采用光柵傳感器的數(shù)字化精密測頭是掃描式測頭的普遍發(fā)展趨勢,其最終發(fā)展結(jié)果將出現(xiàn)智能化精密測頭。
掃描測量方式雖然比點位測量方式效率高,但仍然受到觸測的限制。非接觸式測頭無需接觸,在運動中采樣測量,可避免精密量儀的頻繁加速、減速、碰撞等,從而大大提高了測量效率;又因為非接觸式測頭的測量力為零,可以測量各種柔軟、易于劃傷的工件;另外,可以形成很小光斑,對一些接觸測端不易伸入的部件進行測量,或?qū)σ恍┘毠?jié)進行測量,并且有很大的測量范圍;因此,精密測頭的應(yīng)用趨勢就是非接觸式測頭將得到越來越廣泛的應(yīng)用。
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