模塊化設計使同一光源可以提供給兩個獨立（相同或不同）的測角儀，即透射/德拜-謝樂模式和布拉格-布倫塔諾模式，而且測角儀可以采用立式和臥式。
特點：
透射/德拜-謝樂及布拉格-布倫塔諾模式
高分辨衍射模式，使得峰形銳利
Ge(111)單色器提供了純Kα1，可以供Fe, Co, Cu 和Mo靶自動或手動調整一個自由度即可以實現(xiàn)單色器的調整
可以分析空氣敏感或濕度敏感以及微量樣品（0.01-0.1mg）
高低溫附件
樣品臺以及探測器的互換非常方便
探測器：
閃爍計數(shù)器
位敏探測器
影像板探測器(IP)
軟件：
STOE Win XPOW
Search/Match物相分析軟件,支持 ICCD PDF2 /PDF4
CSD Rietveld 精修
LAYER反射分析
選配：
零散射箔透射模式樣品臺支架（適應厚度調整）
開放式和封閉式毛細管樣品臺支架
可調反射樣品（粉末或塊狀）支架
高低溫附件臺，可調溫度在20K到2000K
自動樣品轉換臺（透射模式30 /反射12）
重量： 約350Kg
尺寸： 1700*900*1900mm
聚焦圓直徑： 130mm
2范圍： 0－140
掃描模式： 自由選擇
角度重現(xiàn)性 0.0005
最小步長 0.0005
探測器： 線性位敏探測器，固體探測器，
閃爍計數(shù)器，IP探測器
輻射防護： 全互鎖系統(tǒng)
高壓發(fā)生器: 3.6KW,水冷
計算機: PC，32位Windows OS
源順國際有限公司
源順國際有限公司是一家專門從事納米科技，材料分析，光電產(chǎn)品檢測及生產(chǎn)設備銷售和技術咨詢的高科技公司。我們獨家代理具有世界先進水平的分析儀器，產(chǎn)品涵蓋了微觀結構觀察，物理性能，力學性能及電磁學性能。
Total Solution ，為客戶提供整體解決方案，是源順公司一貫堅持的宗旨。 這個宗旨象征高新科技、品質與客戶服務，并將在新的世紀中，全面提升服務品質以伴隨您的闊步發(fā)展。
源順公司秉持企業(yè)文化：『誠信』、『品質』、『服務』、『團隊』、『創(chuàng)新』，本著其宗旨『Total Solution』，繼續(xù)將最先進的技術，以最佳的成本效益，提供客戶最優(yōu)質的精密分析儀器和生產(chǎn)設備，并堅持最完美的服務。
公司產(chǎn)品主要有：
LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀
Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
Scinco公司: 可見光及紫外光光度計(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在線粘度計。
ProRheo公司: 高階粘度計。
Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
AET 公司: 微波誘電分析儀
NANOFILM公司: 呈象橢偏儀，布氏角顯微鏡，LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
Capres公司: MRAM,寫磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (數(shù)字全析顯微鏡)
BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。
OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析，Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封裝應變,3D熱機械變形及CTE分析)。
Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD，MBE，VCSEL 氧化系統(tǒng)。
源順國際公司總部設在香港，在上海和北京設立了分公司，深圳和成都設立了辦事處，并有強大的技術和維修隊伍，為客戶提供最高水平的產(chǎn)品和服務。
