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雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀

雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀

  • 價 格: 電議
  • 型號:
  • 生 產(chǎn) 地:日本
  • 訪問:1076次
  • 發(fā)布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

源順科技儀器有限公司

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產(chǎn)品展示

Uniopt公司致力于光學(xué)外差干涉技術(shù)的開發(fā),為液晶、光學(xué)儲存盤、高分子薄膜提供雙折射檢測設(shè)備。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
  • 公司簡介

雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀

全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 雙折射系數(shù)的線性解析度高達(dá) 0.01nm ; 可同時測量延遲軸和主軸兩個方向; 基于光學(xué)相位差的雙折射系數(shù)顯示; 一秒采樣時間; 應(yīng)用: 液晶顯示屏膜; 聚合物膜的取向; DVD 和 CD 光學(xué)系統(tǒng)組件; 由于薄膜和基材之間熱膨脹系數(shù)不同引起的應(yīng)力; 某些透明材料的內(nèi)部殘余應(yīng)力,如光學(xué)玻璃和塑料; 某些透明材料的熱應(yīng)力; 光彈性系數(shù); 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-22( 自動測量線性和周向雙折射系數(shù),高速型 )

雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀

特點: 可同時或獨立測量線性和周向雙折射系數(shù); 無需樣品旋轉(zhuǎn),即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數(shù)、圓周雙折射系數(shù)的旋轉(zhuǎn)角; 一秒采樣時間; 可選樣品旋轉(zhuǎn)臺; 二維或三維顯示 雙折射系數(shù)的線性解析度高達(dá) 0.01nm ; 可全自動操作; 應(yīng)用: 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射分布 ; 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射系數(shù)與電壓的關(guān)系; 電-光學(xué)器件 ( 如: Pockel 效應(yīng)、 Faraday 旋轉(zhuǎn)、 Kerr 旋轉(zhuǎn)等 ) ; 光學(xué)晶體研究; 聚合物膜研究; 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-30( 超高速型 ) 特點: ABR-30 可以實現(xiàn)雙折射系數(shù)的高速測量: 100 微秒; 維護成本極低; 二維或三維顯示; 可選樣品旋轉(zhuǎn)臺; 操作方便; 應(yīng)用: 在靜態(tài)和高速旋轉(zhuǎn)速度下進行光學(xué)儲存器件表征; 動態(tài)雙折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ; 對某些透明材料的熱沖擊; 動態(tài)光彈性系數(shù); 光學(xué)相位調(diào)制器;


源順國際有限公司

源順國際有限公司是一家專門從事納米科技,材料分析,光電產(chǎn)品檢測及生產(chǎn)設(shè)備銷售和技術(shù)咨詢的高科技公司。我們獨家代理具有世界先進水平的分析儀器,產(chǎn)品涵蓋了微觀結(jié)構(gòu)觀察,物理性能,力學(xué)性能及電磁學(xué)性能。
Total Solution ,為客戶提供整體解決方案,是源順公司一貫堅持的宗旨。 這個宗旨象征高新科技、品質(zhì)與客戶服務(wù),并將在新的世紀(jì)中,全面提升服務(wù)品質(zhì)以伴隨您的闊步發(fā)展。
源順公司秉持企業(yè)文化:『誠信』、『品質(zhì)』、『服務(wù)』、『團隊』、『創(chuàng)新』,本著其宗旨『Total Solution』,繼續(xù)將最先進的技術(shù),以最佳的成本效益,提供客戶最優(yōu)質(zhì)的精密分析儀器和生產(chǎn)設(shè)備,并堅持最完美的服務(wù)。

公司產(chǎn)品主要有:
LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀
Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
Scinco公司: 可見光及紫外光光度計(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在線粘度計。
ProRheo公司: 高階粘度計。
Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
AET 公司: 微波誘電分析儀
NANOFILM公司: 呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術(shù)。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
Capres公司: MRAM,寫磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (數(shù)字全析顯微鏡)
BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。
OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封裝應(yīng)變,3D熱機械變形及CTE分析)。
Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系統(tǒng)。


源順國際公司總部設(shè)在香港,在上海和北京設(shè)立了分公司,深圳和成都設(shè)立了辦事處,并有強大的技術(shù)和維修隊伍,為客戶提供最高水平的產(chǎn)品和服務(wù)。

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