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雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀
全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 雙折射系數(shù)的線性解析度高達(dá) 0.01nm ; 可同時測量延遲軸和主軸兩個方向; 基于光學(xué)相位差的雙折射系數(shù)顯示; 一秒采樣時間; 應(yīng)用: 液晶顯示屏膜; 聚合物膜的取向; DVD 和 CD 光學(xué)系統(tǒng)組件; 由于薄膜和基材之間熱膨脹系數(shù)不同引起的應(yīng)力; 某些透明材料的內(nèi)部殘余應(yīng)力,如光學(xué)玻璃和塑料; 某些透明材料的熱應(yīng)力; 光彈性系數(shù); 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-22( 自動測量線性和周向雙折射系數(shù),高速型 )
雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀
特點: 可同時或獨立測量線性和周向雙折射系數(shù); 無需樣品旋轉(zhuǎn),即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數(shù)、圓周雙折射系數(shù)的旋轉(zhuǎn)角; 一秒采樣時間; 可選樣品旋轉(zhuǎn)臺; 二維或三維顯示 雙折射系數(shù)的線性解析度高達(dá) 0.01nm ; 可全自動操作; 應(yīng)用: 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射分布 ; 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射系數(shù)與電壓的關(guān)系; 電-光學(xué)器件 ( 如: Pockel 效應(yīng)、 Faraday 旋轉(zhuǎn)、 Kerr 旋轉(zhuǎn)等 ) ; 光學(xué)晶體研究; 聚合物膜研究; 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-30( 超高速型 ) 特點: ABR-30 可以實現(xiàn)雙折射系數(shù)的高速測量: 100 微秒; 維護成本極低; 二維或三維顯示; 可選樣品旋轉(zhuǎn)臺; 操作方便; 應(yīng)用: 在靜態(tài)和高速旋轉(zhuǎn)速度下進行光學(xué)儲存器件表征; 動態(tài)雙折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ; 對某些透明材料的熱沖擊; 動態(tài)光彈性系數(shù); 光學(xué)相位調(diào)制器;
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