XAN -P膜厚儀一臺款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀（EDXRF）。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
XAN -P膜厚儀 測量準確，使用安全簡便，并且不會對物品產生破壞，堅固耐用節(jié)省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定。
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