您的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展廳 > 儀器儀表 > 光學(xué)儀器 > 顯微鏡 > 北京XLB-100現(xiàn)場(chǎng)金相顯微鏡、便攜式金相顯微鏡
技術(shù)參數(shù)：
● 目 鏡10×—視場(chǎng)直徑（18mm），12.5×—視場(chǎng)直徑（14mm）
● 物 鏡4×/0.10 W.D. 17.912
10×/0.25 W.D. 6.544
40×/0.65 W.D. 0.736
● 總放大倍數(shù)40×－－-500×
● 光 源 鎢素?zé)?V/9W，內(nèi)藏式連續(xù)調(diào)光電源
晶圓體顯微鏡LIM-1大平臺(tái)LCD檢測(cè)顯微鏡
LIM-1大平臺(tái)金相檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)微細(xì)物體、IT晶園的顯微觀察。本儀器配置有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡。圖象清晰，襯度好。配置偏光裝置,適用
金相顯微評(píng)級(jí)系統(tǒng)基本原理是：用視頻采集卡或數(shù)碼相機(jī)等硬件設(shè)備，采集到金相顯微鏡中的金相圖片，再對(duì)該圖片進(jìn)行處理和分析，得到相關(guān)檢驗(yàn)結(jié)果。
山東省全新正置金相評(píng)級(jí)系統(tǒng)MIT-1正置金相顯微鏡
金相顯微鏡適用于對(duì)不透明顯微觀察。廣泛應(yīng)用于機(jī)械、礦產(chǎn)業(yè)進(jìn)行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導(dǎo)體工業(yè)進(jìn)行晶體、集成電路的檢驗(yàn)和科學(xué)研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
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