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MicroNano 原子力顯微鏡AFM-III型

MicroNano 原子力顯微鏡

  • 價(jià) 格: 電議
  • 型號(hào):AFM-III型
  • 生 產(chǎn) 地:上海
  • 訪問(wèn):352次
  • 發(fā)布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

上海卓倫微納米設(shè)備有限公司

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具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測(cè),I-V曲線測(cè)量,I-Z曲線測(cè)量,針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲掃描模式形貌檢測(cè)功能,劃移掃描,F(xiàn)-Z曲線測(cè)量功能。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
  • 公司簡(jiǎn)介
簡(jiǎn) 介
這款機(jī)型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外,主要增加了AFM側(cè)向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode),特別適用于檢測(cè)生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強(qiáng)的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測(cè), I-V曲線測(cè)量, I-Z曲線測(cè)量,針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲掃描模式形貌檢測(cè)功能,劃移掃描,F(xiàn)-Z曲線測(cè)量功能。并使用了智能針尖連接專利技術(shù),使各種工作模式之間的轉(zhuǎn)換只需替換相應(yīng)的針尖架,不必替換整個(gè)探頭,軟件能夠自動(dòng)識(shí)別當(dāng)前針尖類型,并自動(dòng)切換到相應(yīng)的工作模式。操作非常方便。
用戶還能根據(jù)不同的科研要求,選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器,以及高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái),使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣,這款機(jī)型還可以根據(jù)用戶需要,選購(gòu)相應(yīng)的功能模塊,將功能擴(kuò)展至磁力顯微鏡模式。
技 術(shù) 指 標(biāo)
¨掃描模式:STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測(cè)量/I-Z曲線測(cè)量/針尖修飾(脈沖)
AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
¨樣品尺寸:≤Φ10mm
¨樣品厚度:≤5mm
¨掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm
¨分辨率:STM(X-Y向0.1nm;Z向0.01nm)
接觸模式AFM(X-Y向0.2nm;Z向0.03nm)
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm,z方向0.1nm)
¨XYZ控制:雙12-bit D/A(相當(dāng)于20位精度)
¨數(shù)據(jù)采樣:雙12-bit A/D (相當(dāng)于20位精度)
¨最大掃描速率:20000 P/S
¨掃描角度:0~360°
¨圖像采樣點(diǎn):256×256 / 512×512
¨馬達(dá)控制:線動(dòng)螺紋+自動(dòng)馬達(dá),行程〈10mm,精度〈0.1μm
¨計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)并行口
¨配套功能強(qiáng)大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可 選 配 件 及 功 能 模 塊
¨3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm規(guī)格掃描器
¨高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)
¨高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái)
¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

上海卓倫微納米設(shè)備有限公司是一家專業(yè)開發(fā)、生產(chǎn)掃描探針顯微鏡的高科技企業(yè)。產(chǎn)品種類齊全,有MicroNano SPM系列的掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM,接觸/非接觸/摩擦力(側(cè)向力)/輕敲模式)、磁力顯微鏡(MFM)。以及SPM配套產(chǎn)品:高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)、大范圍掃描器、高精度樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái)、光學(xué)顯微鏡電控移動(dòng)平臺(tái)、高精度步進(jìn)馬達(dá)/驅(qū)動(dòng)器,和各種SPM探針、標(biāo)準(zhǔn)樣品。此外,我們還承接特殊功能的SPM產(chǎn)品開發(fā)項(xiàng)目。
我們所有型號(hào)的產(chǎn)品間都可直接進(jìn)行功能擴(kuò)展,軟件功能強(qiáng)大,使用方便,自動(dòng)化程度高。并享有遠(yuǎn)程網(wǎng)控檢測(cè)維修,軟件終生免費(fèi)升級(jí),18個(gè)月加長(zhǎng)質(zhì)保期等6大超值服務(wù)。是性價(jià)比相當(dāng)高的國(guó)產(chǎn)SPM儀器。
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    MicroNano掃描隧道顯微鏡

    具有恒流模式/恒高模式形貌檢測(cè)功能,隧道電流-針尖偏壓(I-V)曲線測(cè)量功能,隧道電流-間隙(I-Z)曲線測(cè)量功能和針尖修飾功能。

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