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芯片失效故障分析

芯片失效故障分析

  • 價 格： 1元
  • 型號：
  • 生 產(chǎn) 地：中國大陸
  • 訪問：0次
  • 發(fā)布日期：2017/8/22(更新日期：2017/8/22)

宜特(上海)檢測技術(shù)有限公司

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iST宜特始創(chuàng)于1994年，從IC線路除錯修改起家，逐年拓展新服務(wù)，包括故障分析、可靠度驗證、化學(xué)分析與有線無線認(rèn)證等，建構(gòu)完整IC驗證與分析工程服務(wù)平臺。服務(wù)范圍囊括IC產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈上中下游之客群。隨著云端、物聯(lián)網(wǎng)、車聯(lián)網(wǎng)的快速興起，iST不僅專注核心服務(wù)，并關(guān)注國際規(guī)范趨勢，不斷拓展多元性服務(wù)，建置車用電子驗證平臺、高速傳輸訊號測試與無線訊號驗證，與先進(jìn)工藝材料分析技術(shù)。追求精確、效率、完美的i
  • 詳細(xì)內(nèi)容
  • 公司簡介
芯片失效分析公司,上海芯片失效分析,芯片失效分析,宜特檢測失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務(wù)項目提供客戶咨詢與討論提供客戶做IC組件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需資源與設(shè)備提供客戶一步到位的分析服務(wù)提供第三者公證報告可協(xié)助解決的故障分析的種類ESD / Latch up / OLT / Pre -condition /Reliability 等測試后的失效分析服務(wù)驗退樣品分析服務(wù)或?qū)Ξa(chǎn)品瑕疵原因之分析服務(wù)C/P , F/T ,PCBA 等流程后之樣品分析服關(guān)于宜特:iST宜特始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務(wù)據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
iST宜特，國際知名且具有公信力機(jī)構(gòu)IEC%2FIECQ、TAF、TUV%2FNORD、CNAS認(rèn)可的實驗室。始創(chuàng)于1994年，從IC線路除錯修改起家，逐年拓展新服務(wù)，包括故障分析、可靠性驗證、先進(jìn)工藝材料分析、化學(xué)分析、車用電子驗證平臺、高速傳輸訊號測試與無線訊號驗證等，是半導(dǎo)體供應(yīng)鏈驗證分析專業(yè)伙伴。身為第三方公證的分析與驗證實驗室，宜特秉持著誠信、精確、效率、完美為原則，為每一個細(xì)節(jié)嚴(yán)謹(jǐn)把關(guān)；用當(dāng)責(zé)和專業(yè)的服務(wù)，提供客戶整合技術(shù)方案，與客戶一起持續(xù)創(chuàng)新和成長。我們很榮幸將宜特的品牌刻畫在全球電子產(chǎn)業(yè)的歷史上，一路累積了數(shù)以萬計的解決方案與核心技術(shù)平臺，接軌國際認(rèn)證規(guī)范，定義新的準(zhǔn)則，不斷創(chuàng)造新的指標(biāo)。這一切的全力以赴，都為了一個初衷：「不斷為客戶創(chuàng)造更大的價值」這是宜特的使命與承諾！
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