菲希爾油缸鍍層測厚儀 特點(diǎn)

• 用途廣泛的鍍層厚度測量儀，包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等。
• 通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進(jìn)行同樣效果的測量.
• 配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點(diǎn)。
• 比例計(jì)數(shù)器可實(shí)現(xiàn)數(shù)千cps（每秒計(jì)數(shù)率）的高計(jì)數(shù)率。
• 從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
• 底部C型開槽的大容量測量艙  。

菲希爾油缸鍍層測厚儀 典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測量線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
• 電子行業(yè)中接插件和觸點(diǎn)上的鍍層
• 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
• 電鍍鍍層，如大規(guī)模生產(chǎn)零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護(hù)層Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠寶和鐘表工業(yè)。
• 測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚。
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  它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請專利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測量。

     在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。

     具有強(qiáng)大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。