高加速壽命試驗(yàn)稽核與篩選(HALT/HASA/HASS)高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HASS)加速應(yīng)力試驗(yàn)源由(Accelerated Stress Test:簡(jiǎn)稱AST/ALT)，源起于1960年代美國(guó)因應(yīng)太空計(jì)劃對(duì)高可靠度的需求而被發(fā)展出來(lái)。隨著科技高度發(fā)展及快速變化的市場(chǎng)需求，過(guò)去耗時(shí)的產(chǎn)品驗(yàn)證方式已逐漸無(wú)法應(yīng)付如此快速變化的市場(chǎng)需求進(jìn)而影響到產(chǎn)品于市場(chǎng)之競(jìng)爭(zhēng)力，因此，如何快速且有效發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺點(diǎn)并于設(shè)計(jì)階段加以修正為現(xiàn)今國(guó)內(nèi)外各大廠之主要關(guān)鍵問(wèn)題，亦即是HALT&HASS逐漸被重視的原因。眾所皆知，產(chǎn)品在設(shè)計(jì)階段進(jìn)行缺點(diǎn)修正是極為容易的，在大量生產(chǎn)后進(jìn)行缺點(diǎn)修正則困難度相對(duì)提高。微利時(shí)代若產(chǎn)品在市場(chǎng)于保固期內(nèi)出現(xiàn)缺點(diǎn)則所花費(fèi)成本與商譽(yù)損失將無(wú)法計(jì)算。因此1990年代后以美國(guó)為首的國(guó)際各大廠(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相繼以HALT手法作為新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段迅速找出產(chǎn)品設(shè)計(jì)及制造的缺點(diǎn)同時(shí)改善缺點(diǎn)已達(dá)降低保固期成本、增加產(chǎn)品可靠度并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。同時(shí)可利用HALT所發(fā)現(xiàn)之失效模式與相關(guān)資做為后續(xù)研發(fā)產(chǎn)品的重要依據(jù)。目前有航空電子、汽車及信息等高科技產(chǎn)業(yè)皆已投入HALT 領(lǐng)域之測(cè)試，并且已有相當(dāng)成效。高加速壽命試驗(yàn)( Highly Accelerated Life Testing –簡(jiǎn)稱HALT)高加速壽命試驗(yàn)系利用漸進(jìn)提升應(yīng)力方式施加于產(chǎn)品，施加應(yīng)力種類包括六自由度振動(dòng)、高低溫、快速溫度循環(huán)、復(fù)合式應(yīng)力、電力開(kāi)關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。高加速應(yīng)力稽核與篩選(HASA/HASS )根據(jù)美國(guó)GE的統(tǒng)計(jì)調(diào)查，對(duì)于全新設(shè)計(jì)的產(chǎn)品在市場(chǎng)出現(xiàn)失效的比重分配發(fā)現(xiàn)因設(shè)計(jì)缺點(diǎn)造成失效比例占33%，零件選用不當(dāng)占34%，制程缺點(diǎn)則占33%。Honeywell對(duì)于成熟的產(chǎn)品進(jìn)行市場(chǎng)失效統(tǒng)計(jì)調(diào)查發(fā)現(xiàn)零件不良造成失效比例占60%，制程缺點(diǎn)則占40%。因此控制量產(chǎn)時(shí)零件與生產(chǎn)制程變異才可有效控制RMA比例。一般而言，當(dāng)產(chǎn)品在市場(chǎng)出現(xiàn)失效時(shí)，通常已經(jīng)數(shù)百或數(shù)千產(chǎn)品已經(jīng)投入市場(chǎng)。因此，利用產(chǎn)品在設(shè)計(jì)階段執(zhí)行HALT的數(shù)據(jù)經(jīng)由驗(yàn)證決定適當(dāng)應(yīng)力水平并轉(zhuǎn)換為HASA/HASS手法導(dǎo)入量產(chǎn)質(zhì)量控制。HALT/HASS效益利用高加速環(huán)境應(yīng)力可快速將產(chǎn)品潛在缺點(diǎn)激發(fā)出來(lái)并于設(shè)計(jì)階段加以修正作為產(chǎn)品量產(chǎn)時(shí)之高加速應(yīng)力篩選(HASS)及高加速應(yīng)力稽核(Highly Accelerated Stress Audit)規(guī)格制定之參考降低產(chǎn)品在市場(chǎng)之失效率及減少維修成本建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫(kù)，以作為研發(fā)依據(jù)并可縮短設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)時(shí)間機(jī)臺(tái)規(guī)格Temperature：-100℃ to +200℃Temperature change rate：>50℃/minutesAxes excited：3 Linear, 3 RotationalVibration frequency range： 2 Hz To 10 KHzVibration level：Up to 50 GRMSInside dimension: 136(W)*137(D)*91&139(H)/cmVibration table : 122(W)*122(D)/cm關(guān)于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、失效分析、材料分析、無(wú)線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。