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透射電子顯微鏡(TEM)熱能分

透射電子顯微鏡(TEM)熱能分

  • 價(jià) 格: 1元
  • 型號:
  • 生 產(chǎn) 地:中國大陸
  • 訪問:0次
  • 發(fā)布日期:2017/8/15(更新日期:2017/8/15)

宜特(上海)檢測技術(shù)有限公司

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iST宜特始創(chuàng)于1994年,從IC線路除錯(cuò)修改起家,逐年拓展新服務(wù),包括故障分析、可靠度驗(yàn)證、化學(xué)分析與有線無線認(rèn)證等,建構(gòu)完整IC驗(yàn)證與分析工程服務(wù)平臺。服務(wù)范圍囊括IC產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈上中下游之客群。隨著云端、物聯(lián)網(wǎng)、車聯(lián)網(wǎng)的快速興起,iST不僅專注核心服務(wù),并關(guān)注國際規(guī)范趨勢,不斷拓展多元性服務(wù),建置車用電子驗(yàn)證平臺、高速傳輸訊號測試與無線訊號驗(yàn)證,與先進(jìn)工藝材料分析技術(shù)。追求精確、效率、完美的i
  • 詳細(xì)內(nèi)容
  • 公司簡介
透射電子顯微鏡(TEM)性能特強(qiáng)的材料分析、可達(dá)0.1奈米影像分辨率設(shè)備的TEM,將可針對材料之顯微結(jié)構(gòu)、晶體缺點(diǎn)、化學(xué)成分進(jìn)行分析;搭配上EDS、HAADF(ZC)、應(yīng)力分析等功能,更能得到原子尺度結(jié)構(gòu)與成份信息,解決制程上各種難題。iST宜特TEM分析四大優(yōu)勢 一、領(lǐng)先市場的分析能力:已達(dá)5奈米制程節(jié)點(diǎn); 二、快速交期:三班制24小時(shí)運(yùn)作; 三、FEI、JEOL等特高階設(shè)備,供您選擇(參見下表); 四、樣品制備能量:八臺業(yè)界特高階FEI Helios 660 Dual-beam FIB設(shè)備,搭配解除試片損傷層(離子束能量可低至100 eV)的技術(shù),將協(xié)助您取得特高質(zhì)量TEM影像。 TEM應(yīng)用范圍: 顯微結(jié)構(gòu)分析(晶格影像) 結(jié)晶缺點(diǎn)分析 元素成分分析 薄膜應(yīng)力分析 電子繞射圖分析 雜質(zhì)及污染源分析 機(jī)臺型號/規(guī)格 關(guān)于宜特:iST始創(chuàng)于1994年的臺灣,主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、失效分析、材料分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海,全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn),目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。
iST宜特,國際知名且具有公信力機(jī)構(gòu)IEC%2FIECQ、TAF、TUV%2FNORD、CNAS認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室。始創(chuàng)于1994年,從IC線路除錯(cuò)修改起家,逐年拓展新服務(wù),包括故障分析、可靠性驗(yàn)證、先進(jìn)工藝材料分析、化學(xué)分析、車用電子驗(yàn)證平臺、高速傳輸訊號測試與無線訊號驗(yàn)證等,是半導(dǎo)體供應(yīng)鏈驗(yàn)證分析專業(yè)伙伴。身為第三方公證的分析與驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室,宜特秉持著誠信、精確、效率、完美為原則,為每一個(gè)細(xì)節(jié)嚴(yán)謹(jǐn)把關(guān);用當(dāng)責(zé)和專業(yè)的服務(wù),提供客戶整合技術(shù)方案,與客戶一起持續(xù)創(chuàng)新和成長。我們很榮幸將宜特的品牌刻畫在全球電子產(chǎn)業(yè)的歷史上,一路累積了數(shù)以萬計(jì)的解決方案與核心技術(shù)平臺,接軌國際認(rèn)證規(guī)范,定義新的準(zhǔn)則,不斷創(chuàng)造新的指標(biāo)。這一切的全力以赴,都為了一個(gè)初衷:「不斷為客戶創(chuàng)造更大的價(jià)值」這是宜特的使命與承諾!
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