器件震動(dòng)測試(Vibration)

零組件震動(dòng)試驗(yàn)(Component Vibration Test)
當(dāng)系統(tǒng)/模塊遭受到振動(dòng)環(huán)境時(shí)，在電路板上之零組件往往因?yàn)楣潭ǚ绞交蚪Y(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)之自然頻率因素將進(jìn)入之震動(dòng)能量作數(shù)倍放大，而且對于小質(zhì)量零組件而言其體積越小則自然頻率越高，因此，對于質(zhì)量輕且小的IC零組件進(jìn)行震動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，通常以高頻振動(dòng)為主要測試條件，對于被動(dòng)零組件在規(guī)范應(yīng)用上則以MIL-TSD-202G為主要規(guī)范，對于集成電路則以MIL-STD-883F為主。

被動(dòng)零組件使用之試驗(yàn)條件

• MIL-STD-202G Method 204D Condition B(正弦振動(dòng))
  振動(dòng)頻率：10 – 2KHz，0.06inch amplitude ａnd 15g acceleration
  振動(dòng)軸向：X、Y、Z三軸
  振動(dòng)循環(huán)數(shù)：每軸震動(dòng)12循環(huán)

• MIL-STD-202G Method 204D Condition B(隨機(jī)振動(dòng))
  振動(dòng)頻寬：50-100-1000-2000Hz，+6/-12dB with 7.56grms
  振動(dòng)軸向與時(shí)間：X、Y、Z三軸，每軸震動(dòng)3min, 15min, 1.5hour or 8h

• 集成電路使用之試驗(yàn)條件

• MIL-STD-883F Method 2005.2 Condition A(正弦疲勞震動(dòng))
  

振動(dòng)頻率：10 – 2KHz，0.06inch amplitude ａnd 20g acceleration
振動(dòng)軸向與循環(huán)數(shù)：X、Y、Z三軸，每軸震動(dòng)32小時(shí)

• MIL-STD-883F Method 2007.3 Condition A(正弦震動(dòng))
  振動(dòng)頻率：10 – 2KHz，0.06inch amplitude ａnd 20g acceleration
  振動(dòng)軸向：X、Y、Z三軸
  振動(dòng)循環(huán)數(shù)：每循環(huán)不得小于4分鐘，每軸震動(dòng)4循環(huán)

對于使用于汽車(Automotive)上之零組件耐振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)芰σ�求相對于消費(fèi)性產(chǎn)品則高許多，目前汽車用電路類零件大都根據(jù)Automotive Electronics Council-(簡稱AEC)作為驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)。

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關(guān)于宜特：

iST始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、材料分析、失效分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。