
您的位置:首頁 > 產(chǎn)品展廳 > 電工電氣 > 光伏零部件 > 控制器 > PNI Nano-DST™ AFM 雙掃描器雙控制器第二代原子力顯微鏡
主要特點
Nano-DST™是全世界第一套雙掃描器雙控制器原子力顯微鏡, 主要特點 :
* 具有一個閉環(huán)式掃描器(Tip Scan) 與另一個超快速掃描器(Sample Scan) . 兩個掃描器可同時作用.可在1秒內(nèi)在大范圍樣品臺上(100mmx100mm)獲得原子級圖像(Atomic Resolution)
* DST™ 雙控制器為400MHz 24/16 bits Dual Control Unit. 在擷取圖像, 降低噪聲與電子控制的穩(wěn)定度上達到前所未有的強大功能
*全自動Z軸探針迫近系統(tǒng)采用三個獨立馬達, 定位傳感器可以獨立控制這三個
馬達中的任何一個. 全自動XY樣品臺具有Mapping功能,可以滿足所有客戶在自動化上的需求
儀器介紹 |
作為全世界掃描探針顯微鏡研發(fā)的領(lǐng)先者, 美國太平洋納米科技公司推出全世界
第一套雙掃描雙控制掃描探針顯微鏡.
Nano-DST™的優(yōu)點包括:
雙掃描器控制(DST):兩個掃描頭可以獨立或者同時驅(qū)動,完成快速掃描,
可在1秒內(nèi)得到原子級高分辨率的圖像。
模塊化的電子控制器:可以進行無數(shù)次實驗和應(yīng)用的設(shè)置。
帶3-D校準傳感器的彈性轉(zhuǎn)換掃描器:由于這種獨有的彈性轉(zhuǎn)換掃描器的設(shè)計,
能夠獲得最精確的數(shù)據(jù)。掃描范圍可以高達360微米。
規(guī)格:400MHz 24位掃描控制,低噪音和高穩(wěn)定性電子調(diào)制確保在SPM系統(tǒng)中
獲得最優(yōu)的性能。
設(shè)計模式:Nano-DST™能實現(xiàn)所有的AFM模式,包括:SThM, MFM,EFM,STM,SKPM等。
太平洋科技公司能夠提供任何客戶希望嘗試的新模式的技術(shù)支持。
機械化樣品臺控制:Nano-DST™樣品臺包括7個步進馬達,用來控制樣品的位置、
光學(xué)縮放和聚焦。Z軸動作控制使用3個馬達,既能促使探針快速逼近樣品表面
又能控制探針和樣品之間的角度。所有的馬達均使用最新的高速馬達控制器來
操作。
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