您的位置：首頁 > 產(chǎn)品展廳 > 儀器儀表 > 無損檢測儀器 > 測厚儀 > 涂鍍層測厚儀（膜厚計）
| 測量方式 | 電磁式 | 渦流式 |
| 探頭型號 | LEP-J（Fe） | LHP-J（NFe） |
| 測量對象 | 磁性金屬（鐵、鋼）上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬（非鐵）上的絕緣層 |
| 測量范圍 | 0～2500um（99mils） | 0～1200um（47mils） |
| 測量精度 | <50um:±1um; 50～1000um:±2%; >1000um:±3% | |
| 分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
| 存儲數(shù)據(jù) | 約3000個 | |
| 預存通道 | 電磁式和渦流式各50個，共計100個 | |
| 顯示方式 | LCD數(shù)顯 | |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 連接電腦或打印機 | |
| 電源 | 5#電池×4個 | |
| 消費電量 | 80mW（不使用背光狀態(tài)下） | |
| 電池壽命 | 100小時（不使用背光狀態(tài)下連續(xù)使用的情況下） | |
| 室溫要求 | 0～40℃ | |
| 外形尺寸 | 主機：75（W）×145（D）×31（H）, 340g | |
| 標準配置 | 鐵基體，非鐵基體，標準片，V型塊，主機皮套，電池×4個，使用說明書 | |
| 可選附件 | 標準片，專用臺架，軟件，數(shù)據(jù)線，探頭 | |
我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團附屬成員. 我集團在中國和香港地區(qū)獨家代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。以下是我集團的其他主要產(chǎn)品：
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