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XT-1 32.768KHZ 表晶測試儀
1. 測量32.768KHZ表晶.
2. 直讀頻率誤差的PPM值,
可測頻差范圍0~500PPM
3. 內(nèi)置負(fù)載電容12.5PF
4. 可測晶體等效電阻范圍:~45KΩ
5. 可設(shè)頻差范圍合格提示音
6. 體積小,重量輕,精度高,
使用簡單,攜帶方便.
特點(diǎn)： 1.高精度恒壓、恒流。 2.輸出電壓、電流分別為四位數(shù)字顯示（PS-B305D）。 3.電流最小可預(yù)置輸出4mA。 4.分辨率電壓10mV、電流1mA。 5.具有mA
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