
您的位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品展廳 > 儀器儀表 > 無(wú)損檢測(cè)儀器 > 測(cè)厚儀 > 德國(guó)EPK庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GALVANOTEST3000
#8226; 可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層
#8226; 利用庫(kù)侖電量分析原理,測(cè)量鍍層、多層鍍層
#8226; 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以測(cè)量 | 2000 | 3000 |
可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合 | ● | ● |
可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層 | ● | ● |
可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件 | ● | ● |
預(yù)置10種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金(需提供樣品確定) |
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預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。 | ● |
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用戶可另設(shè)置8種金屬的測(cè)量參數(shù) |
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用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù) | ● |
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測(cè)量機(jī)構(gòu): |
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帶循環(huán)泵 |
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帶氣泵 | ● |
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測(cè)量面積: |
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密封墊 8 mm2 | ● |
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密封墊 4 mm2 | ● | ● |
密封片 1 mm2 | ● | ● |
密封片 0.25 mm2(涂鍍層面積幾乎小得看不見) |
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電解杯 0.25-16 mm2 (可選件) | ● | ● |
測(cè)量參數(shù)最優(yōu)化調(diào)整: |
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除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào) | ● | ● |
根據(jù)金屬和測(cè)量表面可直接調(diào)整系數(shù) | ● | ● |
可用厚度標(biāo)準(zhǔn)樣板校準(zhǔn) | ● | ● |
可調(diào)整終點(diǎn)電壓,以抗干擾,適應(yīng)鍍層/基體之間的合金 | ● | ● |
GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
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可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目 | 10 | 18 |
可存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值 | 2000 | 2000 |
儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。 | ● | ● |
統(tǒng)計(jì)計(jì)算: |
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顯示6種統(tǒng)計(jì)值:均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、最大、最小值、讀數(shù)個(gè)數(shù) | ● | ● |
立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值 | ● | ● |
立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值 |
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顯示、打印年、月、日、時(shí)、分 | ● | ● |
用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口: |
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MINIPRINT 微型打印機(jī)接口 | ● | ● |
RS-232,PC計(jì)算機(jī)接口 | ● | ● |
連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口 | ● | ● |
電解液飽和報(bào)警指示 |
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測(cè)量的不確定性: |
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5%,在8mm2面積下,經(jīng)校準(zhǔn) | ● | ● |
電源: |
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110/220V,50/60HZ,10W | ● | ● |
測(cè)量范圍: |
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最大測(cè)量范圍:0.05-75μm | ● | ● |
美國(guó)泛美EPOCH LT經(jīng)濟(jì)型超聲波探傷儀
EPOCH LT是一款業(yè)界真正手持式、低價(jià)位的超聲波探傷儀。它重僅僅1公斤,操作簡(jiǎn)便,可以迅速完成基本的探傷檢測(cè)任務(wù)。
德國(guó)尼克斯QuaNix4500涂鍍層測(cè)厚儀
無(wú)需校準(zhǔn):多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度,要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。
德國(guó)尼克斯QuaNix4200涂鍍層測(cè)厚儀
德國(guó)Automation公司成立于1958年。長(zhǎng)期以來(lái)一直致力于開發(fā)、研制、生產(chǎn)涂層測(cè)厚儀。早在公司創(chuàng)始人尼克斯(Dr.Nix)博士的父親即開始研究涂層測(cè)厚儀。
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