RF LCR表 
HP 4286A 
     Agilent 4287A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行精確測量。   
  
生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠  
     4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非�？�。此外，在小測試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。 
系統(tǒng)組建簡單 
       測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。 
便于使用 
      8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作專用夾具。 
技術(shù)指標(biāo) 
全面的技術(shù)指標(biāo)參見數(shù)據(jù)資料表 
測量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數(shù)）。 
測試頻率：1MHz～3GHz 
頻率分辨力：100KHz 
測試信號： 
  V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz) 
  I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)  
電平監(jiān)視功能：電壓，電流  
基本的Z精度：±1.0% 
測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%) 
測量時間：每點9ms（最高速） 
Rdc測量：可用于觸點檢查 
校準(zhǔn)：開路/短路/負載/低損耗電容量 
補償：開路/短路,電長度 
大容量存儲功能：30MB固態(tài)大容量存儲或2 GB硬盤（選擇選件） 
接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口 
顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器 
一般指標(biāo) 
電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax， 
工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80% 
尺寸：234mm高×425mm寬×445mm深（主機） 
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭） 
主要技術(shù)資料 
4287A射頻LCR測試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E 
4287A技術(shù)指標(biāo)：p/n 5968-5758E 
LCR測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E 

選件 
選件001刪去16195B校準(zhǔn)工具箱 
選件002刪去測試夾具座 
選件003刪去3.5mm～7mm適配器 
選件004增加工作標(biāo)準(zhǔn)套件 
選件010硬盤驅(qū)動大容量存儲器 
選件011 固態(tài)大容量存儲器 
選件020 增加電纜延伸套件 
可提供的附件 
16190B性能測試配件 
16195B 7mm校準(zhǔn)工具箱 
16191A側(cè)面電極SMD夾具 
16192A平行電極SMD夾具 
16193A小側(cè)面電極SMD夾具 
16194A高溫測試夾具 
16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具 
16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具 
16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具 
19197A底面電極SMD夾具