特點:
樣品臺水平不動,探測器和X光管動
2theta范圍:-10至168,
測角圓半徑 275 mm
光束平行準直系統
軟件控制的精密狹縫系統
可選擇閃爍計數器、線性位敏探測器及固體探測器
高低溫附件以及恒濕樣品室
多種掃描方式:theta/2theta、theta,2theta獨立掃描
薄膜附件和反射幾何:結合模擬軟件,進行薄膜和多層膜的相分析
開環(huán)尤拉環(huán):應力和織構分析
FWHM Δ 2θ=0.025°
入射束和衍射束多層模光學鏡
軟件
STOE WinXPOW
ICDD CD-ROM PDF2/ PDF4 數據庫
Search / Match 物相鑒定
CSD Rietveld /Structure Solution
應力/織構分析
反射
選配:
薄膜附件
開環(huán)尤拉環(huán)
衍射束單色器
高低溫腔和濕度裝置
線性位敏探測器
固體探測器
轉樣臺 (最大12個不同厚度的樣品)
馬達控制旋轉樣品臺
自調整樣品臺
計算機控制
樣品的旋轉和傾斜
X-ray Shutter
高壓產生
狹縫系統
質量 約560 kg
尺寸 1450*860*2100mm
測量圓半徑 275 mm
2 范圍 -10° to 168°
角度重復性 0.001°
最小步長 0.001°
最大/ 最小速度 6° to 0.05° /s
驅動方式 兩個獨立的步進馬達
Soller 狹縫系統 入射和衍射束 soller準直器
0,5° or 3° 縱向發(fā)散度
精密螺旋可調狹縫或 0.01 to 2 mm
計算機控制狹縫系統
垂直狹縫 2, 4, 6, 8, 10mm
單色器 衍射束單色器,如平面石墨
源順國際有限公司
源順國際有限公司是一家專門從事納米科技,材料分析,光電產品檢測及生產設備銷售和技術咨詢的高科技公司。我們獨家代理具有世界先進水平的分析儀器,產品涵蓋了微觀結構觀察,物理性能,力學性能及電磁學性能。
Total Solution ,為客戶提供整體解決方案,是源順公司一貫堅持的宗旨。 這個宗旨象征高新科技、品質與客戶服務,并將在新的世紀中,全面提升服務品質以伴隨您的闊步發(fā)展。
源順公司秉持企業(yè)文化:『誠信』、『品質』、『服務』、『團隊』、『創(chuàng)新』,本著其宗旨『Total Solution』,繼續(xù)將最先進的技術,以最佳的成本效益,提供客戶最優(yōu)質的精密分析儀器和生產設備,并堅持最完美的服務。
公司產品主要有:
LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀
Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
Scinco公司: 可見光及紫外光光度計(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在線粘度計。
ProRheo公司: 高階粘度計。
Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
AET 公司: 微波誘電分析儀
NANOFILM公司: 呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
Capres公司: MRAM,寫磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (數字全析顯微鏡)
BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。
OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封裝應變,3D熱機械變形及CTE分析)。
Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系統。
源順國際公司總部設在香港,在上海和北京設立了分公司,深圳和成都設立了辦事處,并有強大的技術和維修隊伍,為客戶提供最高水平的產品和服務。