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該多級(jí)碰撞采樣器將懸浮顆粒按照粒徑大小分級(jí)采集到硅片、鋁膜及其它平面介質(zhì)上進(jìn)行掃描電鏡或其它技術(shù)分析潔凈室污染。
儀器特點(diǎn):
l 6級(jí)碰撞采樣
l 切割直徑:0.05、0.1、0.3、1.0、3.0、10µm
l 采集顆粒于不同介質(zhì)上進(jìn)行粒徑、形狀及化學(xué)成分分析
l 噪音低無(wú)污染采樣泵
l 采樣流量:3 L/min 3 liters per minute
l 尺寸WxHxD:230 x 300 x 240 mm
科藝儀器有限公司 (A & P INSTRUMENT CO., LTD.) 1984年成立于香港,二十多年來(lái)以提供高素質(zhì)之科學(xué)儀器、完備之技術(shù)服務(wù)而倍受科研用戶(hù)的信賴(lài)。本公司所代理世界各國(guó)數(shù)十家高科技公司的產(chǎn)品,幾乎包括了所有科研、教學(xué)及生產(chǎn)所需的數(shù)萬(wàn)種儀器和設(shè)備。
產(chǎn)品內(nèi)容涉及以下三個(gè)方面:
1. 各種激光器、激光配件及光學(xué)光電子通訊產(chǎn)品;
2. 大學(xué)、中學(xué)各學(xué)科的教學(xué)儀器;
3. 實(shí)驗(yàn)室通用儀器及食品、環(huán)保監(jiān)測(cè)、材料測(cè)試儀器。
科藝儀器有限公司以提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和上佳的技術(shù)服務(wù)為宗旨,所有的員工都受過(guò)良好的訓(xùn)練和培訓(xùn),具有較高的學(xué)識(shí)和能力。這支強(qiáng)大的員工隊(duì)伍使公司得以不斷的發(fā)展和完善。
該采樣器為3級(jí),主要用于將已有的 MOUDI™-110 采樣器的測(cè)量范圍擴(kuò)充到10 nm。它易于安裝在10級(jí)旋轉(zhuǎn)式和非旋轉(zhuǎn)式MOUDI™下端,一個(gè)特殊的底座將10 L/min
多級(jí)碰撞采樣器樣品自動(dòng)提取系統(tǒng)
多級(jí)碰撞采樣器樣品自動(dòng)提取系統(tǒng)為美國(guó)藥典及歐洲藥典所要求的配合NGI或Andersen多級(jí)采樣器的半自動(dòng)樣品回收系統(tǒng)
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