德國(guó)FISCHER菲希爾X射線熒光光譜儀 華東總代理—供應(yīng)商、廠家、特點(diǎn)、詳細(xì)說明：
    材料分析－FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY
     X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測(cè)量，同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。
    可以對(duì)幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀，它可以對(duì)未知材料進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速而精確的分析。分析范圍從鋁（Al）到鈾（U），即使含量很小也可以測(cè)量。
    這些獨(dú)特的儀器之所以具有如此強(qiáng)大的性能，是因?yàn)樗�使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測(cè)器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
    如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無(wú)損和精確測(cè)量金含量的理想設(shè)備。
    1、XAN® 120X射線光譜儀
    貴金屬及珠寶首飾材料分析的理想工具
    新款FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 120是一臺(tái)款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀（EDXRF）。它特別為快速無(wú)損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計(jì)。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
    XAN® 120測(cè)量準(zhǔn)確，使用安全簡(jiǎn)便，堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用。而且，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定。
    無(wú)論您想測(cè)量未知樣品還是測(cè)定未知材料，XAN® 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM® 運(yùn)行軟件都是您正確的選擇。
    采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN® 120 的底部，從而可以采用射線向上的測(cè)量技術(shù)。
    集成了含十字線、射線位置指示標(biāo)志、光亮及位置調(diào)節(jié)的視頻顯微系統(tǒng)，將使得樣品的放置和測(cè)量定位變得快捷而容易�，F(xiàn)在您不再需要調(diào)節(jié)測(cè)量臺(tái)或是樣品臺(tái)——只需放下樣品即可開始測(cè)量。
     長(zhǎng)期的穩(wěn)定性和出色的精確度——對(duì)于金優(yōu)于1‰——是 XAN® 120的優(yōu)勢(shì)所在。而且，由于不需要經(jīng)常進(jìn)行再校準(zhǔn)，從而節(jié)省了使用者的時(shí)間、精力及經(jīng)營(yíng)成本。測(cè)量結(jié)果可以以Karat、 ‰ 或重量 %顯示，并且可以按客戶報(bào)表打印輸出。
    優(yōu)秀的人體學(xué)設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單的操作即測(cè)量結(jié)果的快速計(jì)算是對(duì)XAN® 120最好的描述。使用安全而簡(jiǎn)單——無(wú)論是對(duì)經(jīng)驗(yàn)豐富還是接受較少培訓(xùn)的員工都是如此。不需要為XAN® 120特別設(shè)置一個(gè)實(shí)驗(yàn)室房間。如果您需要一臺(tái)出色、準(zhǔn)確可靠的測(cè)量?jī)x器，XAN® 120 是您正確的選擇。 為個(gè)人計(jì)算機(jī)而設(shè)計(jì)的WinFTM® 測(cè)試軟件
    先進(jìn)的Fischer WinFTM® 軟件有著無(wú)與倫比的性能：完整、簡(jiǎn)單易用而且不需要補(bǔ)充模塊或是軟件升級(jí)。軟件包括 ：
    X射線部件的操作
    控制整個(gè)測(cè)量過程
    先進(jìn)的基本參數(shù)法可進(jìn)行無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量
    用受認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)，可以完成有標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校的測(cè)量
    可以同時(shí)分析材料成分和測(cè)量計(jì)算鍍層厚度
    按照元素波峰進(jìn)行自動(dòng)元素識(shí)別
    測(cè)量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
    客戶自定義報(bào)表工具
 2、FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL X射線光譜儀
    FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 是一款適用于大批量材料分析的X-射線光譜儀。
    由于可檢測(cè)元素范圍寬至從鋁到鈾，使得FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 的應(yīng)用范圍延伸至從工業(yè)到科學(xué)領(lǐng)域。無(wú)論分析應(yīng)用于冶金上的，地質(zhì)上的，石化上的還是其它種類的材料，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 都是一款強(qiáng)有力的和經(jīng)濟(jì)的光譜儀。
    內(nèi)置的彩色視頻頭使得X-射線光束快速和精確地定位于被測(cè)工件上需要分析的范圍。該儀器所提供的性能和特征的集合是在同樣價(jià)格范圍內(nèi)的材料分析儀中無(wú)法找尋到的。
    大測(cè)量箱，可編程的X-Y工作臺(tái)，X-射線從上往下的設(shè)計(jì)，X-射線發(fā)生管和接受器裝配系統(tǒng)的Z-軸運(yùn)行使得設(shè)備非常適合于幾個(gè)被測(cè)物體的編程測(cè)量和掃描較大工件。
    獨(dú)特的WinFTM® V6 i軟件是該儀器的核心。它可以分析多達(dá)24種元素的材料，無(wú)須校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)塊，帶預(yù)估測(cè)量精度，以及測(cè)量非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)。
    3、XDV®-SDD X-射線光譜儀
    您的產(chǎn)品符合RoHS指令嗎？
    您收到的黃金與你所付出的相一致嗎?
    您的電鍍過程是否節(jié)省成本并且可靠呢?
    該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且，它還十分適合于測(cè)量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復(fù)性可達(dá)0,5 ‰。
    對(duì)于鍍層：不僅可以測(cè)量其成分比例，還可以測(cè)量器厚度!
    XDV®-SDD 是一款真正全能的測(cè)試儀器!
    RoHS / WEEE
    可靠地測(cè)量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可達(dá)到的測(cè)量下限Pb為2 ppm，對(duì)Cd為10 ppm。
    RoHS / WEEE對(duì)Pb的限制為1000 ppm以及對(duì)Cd為100 ppm，儀器能可靠地予以驗(yàn)證。
    塑料樣品可以不考慮其厚度而進(jìn)行準(zhǔn)確分析。
    即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。
    XY（Z）平臺(tái)可用來(lái)自動(dòng)掃描印刷線路板。
    WinFTM® V.6 BASIC軟件
    在一次測(cè)量過程中，最多可測(cè)定包括鍍層厚度和元素成分比例在內(nèi)多達(dá)24個(gè)特征參數(shù)。
    可測(cè)的鍍層厚度小至10納米。
    大多數(shù)情況下，復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)可以在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片（無(wú)調(diào)校）模式下高精度地分析。
    每個(gè)程式在使用最多64片標(biāo)準(zhǔn)片下，可達(dá)到最高的準(zhǔn)確度。
    這同時(shí)也保證了測(cè)量結(jié)果的可追溯性。
    X射線校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片提供DKD 校準(zhǔn)證書，遵循DIN EN ISO/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)。
    WinFTM® V.6 軟件能精確測(cè)量從幾個(gè)ppm到100%的成分含量。
    4、XAN® 150X射線光譜儀
    XAN® 150特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層，即使鍍層的結(jié)構(gòu)十分復(fù)雜或是組分含量非常微小，XAN150都能準(zhǔn)確測(cè)量。
    典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
    在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中，測(cè)量功能性鍍層，鍍層厚度最薄可低至數(shù)納米
    出于保護(hù)消費(fèi)者目的的痕量檢測(cè)，如玩具中的鉛含量等
    在珠寶手表業(yè)及金屬采礦業(yè)中，以最高的精度要求，分析合金成分
    大學(xué)中的學(xué)術(shù)研究以及工業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)研發(fā)
    由于采用了基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量。可最多同時(shí)測(cè)量從鋁（13）到鈾（92）的24種元素。本款儀器有著出色的精確性以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器了。
     對(duì)于高精度要求的測(cè)量，則可隨時(shí)進(jìn)行必要的校準(zhǔn)。優(yōu)秀的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單易學(xué)的操作過程，快速準(zhǔn)確的結(jié)果計(jì)算和數(shù)據(jù)輸出，是本款儀器的突出優(yōu)點(diǎn)。
    為了使每次測(cè)量都能在最優(yōu)的條件下進(jìn)行，XAN150配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。最新型的硅漂移接收器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測(cè)靈敏度。

    5、XUV®773 X-射線光譜儀
    總體而言，XUV®773是為測(cè)量分析薄鍍層而設(shè)計(jì)的。因此它特別適用于研發(fā)，質(zhì)量控制以及生產(chǎn)過程優(yōu)化等領(lǐng)域。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
    薄鍍層如銅銦鎵硒CIGS，CIS和CdTe等
    電子和半導(dǎo)體工業(yè)中的鍍層測(cè)量和分析
    無(wú)損地分析黃金、首飾和珠寶
    分析痕跡元素，如在RoHS和WEEE領(lǐng)域
    菲希爾X射線測(cè)量系統(tǒng)都有著出色的精確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性。不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省了時(shí)間和精力。優(yōu)秀的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單易學(xué)的操作過程，快速準(zhǔn)確的結(jié)果計(jì)算和數(shù)據(jù)輸出，是XUV®773型儀器，也是整個(gè)菲希爾X射線儀器家族的共同優(yōu)點(diǎn)。
    它尤其適合無(wú)損地測(cè)量分析超薄薄鍍層，痕跡及輕元素。可最多同時(shí)測(cè)量從鈉（Na11）到鈾（U 92）之間的24種元素。