X’Pert Pro是帕納科公司（前飛利浦公司分析儀器部）于本世紀(jì)推出的新一代X射線衍射儀，其主要特點是多功能、模塊化，即光學(xué)預(yù)校準(zhǔn)的模塊化設(shè)計，使各個功能模塊能夠任由用戶隨意更換，并且在幾分鐘內(nèi)即可構(gòu)造成一種功能化的光路布局，從而使多功能應(yīng)用終于能夠在一臺儀器上實現(xiàn)，如常規(guī)相分析聚焦光路模式、平行光路模式、微區(qū)測量模式等。儀器還可以進(jìn)行小角散射納米粒度測定、應(yīng)力測定、織構(gòu)測定等。

1  儀器基本系統(tǒng)上的新技術(shù) 
    1.1 陶瓷X光管 
    帕納科公司（前飛利浦公司分析儀器部）專利設(shè)計的新型陶瓷X光管，可使用戶在如下三個方面得到最大的收益： 

     (1) 重量輕：可在θ-θ型測角儀上得到過去只有在θ-2θ測角儀上才得到的精度。 這樣可使用戶在高精度的θ-θ 型測角儀上從事松散裝填樣品，液晶樣品，液－固相變和高溫樣品的測試（而此類樣品若在θ-2θ測角儀上是無法完成的）。     

    (2) 壽命長：采用專利設(shè)計的較以往的X光管可使工作溫度降低，延長X光管的使用壽命。 

    (3) 準(zhǔn)確光學(xué)定位：由于陶瓷可精確機(jī)加工，因而飛利浦可以使其陶瓷X光管通過精機(jī)加工進(jìn)行準(zhǔn)確光學(xué)定位，這也是預(yù)校正光路的模.塊化得以實現(xiàn)的前提。(此項技術(shù)為飛利浦公司獨有專利技術(shù)） 

   1.2   DOPS（直接光學(xué)定位系統(tǒng)） 
    采用此項技術(shù)，可使測角儀定位精度提高一個數(shù)量級，并可克服以往步進(jìn)馬達(dá)和齒輪轉(zhuǎn)動技術(shù)因齒輪磨損而造成測角儀的角度誤差，可保證測角儀在多年使用后仍保持準(zhǔn)確的角度測量。    

2.    全球最快的聚焦光路探測器:X’Celerator超能探測器 
    X’Celerator新型超能探測器能夠在不降低分辨率的前提下使每秒計數(shù)率提高100倍，因此靈敏度得到大大提高，甚至于在18kW高功率的儀器上錄不到的譜峰都可在此探測器下得到很強(qiáng)的信號。從另外一個方面說，在得到相同的譜圖質(zhì)量的前提下，可減少錄譜時間100倍，對完成動態(tài)反應(yīng)和相變實驗極為有利。X’Celerator 超能探測器亦采用 帕納科公司獨有的 PreFIX 預(yù)校準(zhǔn)模塊化設(shè)計，能方便地與其他光學(xué)模塊或探測器進(jìn)行互換。 

3.    獨創(chuàng)的FPX模塊……即預(yù)校準(zhǔn)光路的模塊技術(shù) 
    3.1  所有光學(xué)模塊在出廠前均經(jīng)過光學(xué)預(yù)校準(zhǔn)，在用戶現(xiàn)場安裝或更換光學(xué)模塊時，操作方便，無需校準(zhǔn)光路,整個過程可在兩分鐘內(nèi)完成。 

    3.2  入射光路，接收光路和樣品臺均采用模塊化設(shè)計, 可進(jìn)行快速更換, 更換時間不超過5分鐘。 

    3.3  因此在多用途的X衍射研究工作中，唯有X’PertPro可以將X衍射的所有功能，例如：聚集光路，平行光路，不同樣品臺，正比計數(shù)管和PSD等以最快的速度（不超過10分鐘）更換且不用重調(diào)光路，最大限度地發(fā)揮了各種功能的作用，大大提高了研究工作的效率，而且由于預(yù)校準(zhǔn)光路，功能更換后立即可進(jìn)行測試，并且一種模塊被再次換上后能保證測試數(shù)據(jù)完全重合。 

    3.4    儀器出廠后十年內(nèi)發(fā)展的新光學(xué)技術(shù)都制成與之配套的模塊,  為儀器的可持續(xù)發(fā)展提供了一個良好的平臺。 

4.    新型光學(xué)模塊 
    由于采用了Mirror、 Hybrid,、Lens等新型光學(xué)模塊，提高了光的利用效率  ( 例如平行光路提高30－50倍)。 在不增加光管功率的前提下，大大提高了強(qiáng)度，可使用戶在低消耗、高效率下完成許多困難樣品的測試。