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粒徑分析技術(shù)講座
多功能粒徑及粒形分析儀
―――無(wú)與倫比的完美體驗(yàn)
傳統(tǒng)的激光粒度儀由于取樣量偏小,重現(xiàn)性差,樣品不具備代表性,對(duì)于球形度差的樣品無(wú)法得出準(zhǔn)確結(jié)果;傳統(tǒng)的篩分技術(shù)只能測(cè)出顆粒的大概大小,無(wú)法進(jìn)行計(jì)數(shù),并且分析過(guò)程漫長(zhǎng),CAMSIZER采用的雙鏡頭設(shè)計(jì),可以實(shí)時(shí)捕捉樣品顆粒的圖像并進(jìn)行儲(chǔ)存和處理,進(jìn)樣量大,分析具有代表性和重現(xiàn)性,同時(shí)具備在線功能,它是由RETSCH TECHNOLOGY公司與JENOPTIK JENA公司(原德國(guó)蔡司ZEISS)合作研制的。
適用樣品: 鹽、糖、塑料、催化劑、研磨劑、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、藥物、金屬粉末、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、水泥、礦石等。
德國(guó)RETSCH(萊馳)BCEIA 展位號(hào):9號(hào)展館9018展臺(tái)
學(xué)術(shù)講座時(shí)間:
講座地點(diǎn):技術(shù)交流會(huì)B廳
講座名稱(chēng):樣品粉碎及顆粒分析的綜合解決方案
演講人:Joerg Westermann