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產品展示

剪切干涉儀上海乾曜光學科技有限公司

點擊次數:44發(fā)布時間:2016/5/13 8:24:58

剪切干涉儀上海乾曜光學科技有限公司

更新日期:2018/8/8 16:34:18

所 在 地:中國大陸

產品型號:

簡單介紹:采用剪切干涉技術,簡單、直觀的檢測激光光束的平行度,可作為激光器裝調或實驗室光路調整的基準。根據條紋相對于水平基線的旋轉角度可以計算出光束準直度;同時,通過判讀干涉條紋的形狀可以分析原始波面的波差分布。 因此,這既是激光束準直檢測儀,又是定性化的光束波前分析儀?梢苑治鲈疾娴牟ú罘植。

優(yōu)質供應

詳細內容

     上海乾曜光學科技有限公司秉承“超越精密 源自理想”的精神專注、專業(yè)地致力于光學測量儀器、光學系統(tǒng)、光學元件以及精密光機系統(tǒng)的設計、制造。為光學領域的科學研究、精密測量提供全方位的解決方案。
       乾曜光學具有激光干涉儀獨立研發(fā),光學和機械核心元件制造,光學裝校,和性能測試的全過程能力,結合完善的銷售渠道和售后服務,為用戶提供全方位的服務。隨著公司不斷成長,目前具有年產400臺干涉儀的能力,累計銷售超過800臺,服務全國各地的科研院所,大學和企業(yè),并銷往日本,美國和歐洲等地。
     乾曜光學為客戶提供中高端激光干涉儀,平面干涉儀具有口徑范圍大(5mm-450mm)的特點,有效地滿足了大口徑光學元件檢測的需求;球面干涉儀有30mm,60mm,4英寸,6英寸等多個型號,標準鏡頭F#范圍廣泛。高端產品不但具有同等的功能和精度,而且為客戶提供定制產品,主要應用于:國內計量機構廣泛用于對光學樣品的檢定和校準;科研院所用于光學系統(tǒng)裝校的過程監(jiān)控和系統(tǒng)精度評價;也能夠為開展進出口業(yè)務的客戶提供與國外干涉儀的對標服務。中端產品具有較高的精度并較好的控制了成本,適合光學車間的光學元件的快速檢測。大口徑平面干涉儀有效地滿足了大口徑光學元件,以及拼盤加工過程中的測量口徑需求;球面干涉儀的獨特設計,成像清晰,操作便捷,具有測試過程中被測元件無需調整位置的特點,極大地提高了檢測速度。
剪切干涉儀
      采用剪切干涉技術,簡單、直觀的檢測激光光束的平行度,可作為激光器裝調或實驗室光路調整的基準。根據條紋相對于水平基線的旋轉角度可以計算出光束準直度;同時,通過判讀干涉條紋的形狀可以分析原始波面的波差分布。 因此,這既是激光束準直檢測儀,又是定性化的光束波前分析儀。

1、儀器規(guī)格參數表

(附注:更不同口徑剪切涉儀可依據客戶需求定制)

2、儀器特點

  • 剪切板選用熔石英材料,熱膨脹系數低,且應力小;
  • 可使用波長覆蓋可見光與近紅外波段(400nm~1064nm),上表列出了若干特征波長的技術參數;
  • QY-SP-08型剪切干涉儀專為激光器光束準直性檢驗設計,可由監(jiān)視器對激光器輸出的小口徑光束進行觀測。入射光束的功率設計值為1mw左右,超過此功率值時,請使用衰減片。其他類型的剪切干涉儀對入射光強沒有限制。
 
 

一、   測量原理

基于平板剪切干涉原理,采用一塊具有一定厚度并帶有微量楔角的高質量光學平板將一個具有空間相干性的波面分割為兩個完全相同的波面,并且使這兩個波面彼此相對錯位;因為波面上各點是彼此相干的,因此在這兩個波面的重疊區(qū)將產生干涉(圖1)。

圖1、剪切干涉原理示意圖

 

剪切平板楔角方向與剪切方向垂直。如果被檢光束完全平行,則干涉條紋平行于剪切方向;如果被檢光束會聚或發(fā)散,則條紋將發(fā)生旋轉(圖2)。
 

 

圖2、光束不同狀態(tài)的剪切干涉圖

 

同時,若入射波前攜帶波像差,則剪切干涉條紋不再是直條紋,對應不同的像差類型,條紋形態(tài)會發(fā)生相應的變化。因此,可依據條紋形狀定性分析波前相差的類型及幅度。
 

一、   測量方法

1、光束準直度的判讀:
觀察干涉條紋接收屏條紋的傾斜方向,如圖2所示。若條紋與基準線平行,則光束是準直的;若條紋沿斜上方向傾斜,則光束是發(fā)散的;若條紋沿斜下方向傾斜,則光束是會聚的。
當光束不平行時,通過測量條紋相對于基準線的轉角,可推算出光束的發(fā)散角。計算方法如圖3所示:
 
圖3、光束發(fā)散角計算方法
波面的曲率半徑及發(fā)散角的計算公式如下:
 
 
其中,入射光束直徑d與波長 已知;剪切量 可查看產品目錄的技術參數;條紋間距 與波長及剪切板楔角有關,可參考產品目錄或直接用量具測量;條紋偏轉角 可測量得出(需選購帶刻度的接收組件)。代入式(1)、(2),即可求得光束波面的曲率半徑 及發(fā)散角 。
 
 
 2、           光束波像差的判斷:
下面分別介紹各種像差所對應的剪切干涉圖,以便在測試時進行對照判斷:
圖4、球差波面在不同離焦位置的剪切干涉圖:(a)焦內,(b)焦點,(c)、(d):焦外
圖5、彗差波面在不同離焦位置的剪切干涉圖:(a)無離焦,(b)有微量離焦
圖6、像散波面的剪切干涉圖:(a)弧矢方向剪切,(b)子午方向剪切

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