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產(chǎn)品展示

G150S激光平面干涉儀

點(diǎn)擊次數(shù):47發(fā)布時(shí)間:2016/5/13 8:18:36

G150S激光平面干涉儀

更新日期:2018/8/8 16:34:18

所 在 地:中國大陸

產(chǎn)品型號(hào):G150S

簡單介紹:G150S激光平面干涉儀為正立式結(jié)構(gòu),通光口徑為150mm。G150M型平面干涉儀專為計(jì)量級(jí)測試的需求設(shè)計(jì),適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集 高性能、長壽命氦氖激光器,1-6.7倍圖像放大功能,高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)

相關(guān)標(biāo)簽:激光干涉儀 干涉儀 球面干涉儀 平面干涉儀 

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

 詳細(xì)介紹

G150S激光平面干涉儀為正立式結(jié)構(gòu),通光口徑為150mm。 

G150M型平面干涉儀專為計(jì)量級(jí)測試的需求設(shè)計(jì),適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集 高性能、長壽命氦氖激光器,1-6.7倍圖像放大功能,高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),精密平面 標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù),通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量。

G150S為G150M的簡化版本,適合光學(xué)車間的現(xiàn)場檢驗(yàn)。

主要用途:平面類光學(xué)元件(包括玻璃、金屬、陶瓷等)表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的 測試;準(zhǔn)直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測試。 

 


儀器規(guī)格參數(shù)表

 

產(chǎn)品型號(hào)
G200M
G150M
G150S
測量方式
菲索干涉原理
菲索干涉原理
菲索干涉原理
有效通光口徑
200mm
152.4mm(6英寸)
152.4mm(6英寸)
標(biāo)準(zhǔn)鏡材料
熔石英(康寧7980)
熔石英(康寧7980)
熔石英(康寧7980)
光源
氦氖激光(632.8nm)
氦氖激光(632.8nm)
半導(dǎo)體激光(635nm)
連續(xù)變焦倍數(shù)
1-6.7倍
1-6.7倍
固定倍率
光路切換
對(duì)準(zhǔn)(十字叉絲)與測試(干涉場)模式電控切換
顯示方式
計(jì)算機(jī)或獨(dú)立監(jiān)視器實(shí)時(shí)顯示
平面透過標(biāo)準(zhǔn)鏡
PV:優(yōu)于λ/15
PV:優(yōu)于λ/20,可定制更高精度標(biāo)準(zhǔn)鏡
平面反射標(biāo)準(zhǔn)鏡
選配
標(biāo)配
選配
衰減過濾片
選配
選配
選配
儀器尺寸·(長X寬X高)
550X550X1100mm
550X550X1070mm
550X550X1070mm
儀器重量
100KG
80KG
80KG
電源
AC100-240V 50/60Hz
AC100-240V 50/60Hz
AC100-240V 50/60Hz
氣浮平臺(tái)(長X寬)
標(biāo)配(1200X600mm)
標(biāo)配(1200X600mm)
選配

儀器特點(diǎn)
  精度高:標(biāo)準(zhǔn)鏡精度高,且材料經(jīng)過精密退火處理,穩(wěn)定可靠;

調(diào)整方便:可通過切換開關(guān)選擇對(duì)準(zhǔn)與干涉場兩種顯示模式,方便調(diào)整;

條紋真實(shí):可調(diào)節(jié)共軛成像位置,得到清晰、準(zhǔn)確、真實(shí)的干涉條紋;

性能優(yōu)良:儀器具備良好的隔振性能,適合光學(xué)加工現(xiàn)場使用;

配件豐富:選配簡易密封罩,可將測試腔與外界氣流隔離,降低測試過程中氣流擾動(dòng),提高判斷的準(zhǔn)確性

 
儀器操作流程
  儀器初始化:開機(jī)后穩(wěn)定15分鐘,使激光器模式穩(wěn)定;將儀器右側(cè)的轉(zhuǎn)換開關(guān)切換至“對(duì)準(zhǔn)調(diào)整”顯示模式,確保標(biāo)準(zhǔn)鏡反射光點(diǎn)位于十字叉絲中央。

光路粗調(diào):將待測元件放置于載物臺(tái)上,將轉(zhuǎn)換開關(guān)切換至“對(duì)準(zhǔn)調(diào)整”顯示模式,調(diào)整載物臺(tái)的兩維角度調(diào)節(jié)旋鈕,使待測面反射光點(diǎn)與標(biāo)準(zhǔn)鏡反射光點(diǎn)在十字叉絲中心重合。

光路精調(diào):將轉(zhuǎn)換開關(guān)切換至“干涉圖”顯示模式,此時(shí)監(jiān)視器上已經(jīng)可以顯示出密集的干涉條紋,微調(diào)標(biāo)準(zhǔn)鏡調(diào)整架的兩維角度調(diào)節(jié)旋鈕,將視場內(nèi)的干涉條紋調(diào)整至3~5根。

條紋判讀:依據(jù)GB 2831-81(光學(xué)零件的面形偏差檢驗(yàn)方法),并結(jié)合我們?yōu)榭蛻籼貏e制作的“干涉圖與波像差對(duì)比圖”(見附錄),進(jìn)行條紋判讀。

3.2、特殊操作

   干涉圖清晰度調(diào)節(jié):通過調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)鏡旁邊的“共軛調(diào)節(jié)旋鈕”,使干涉圖清晰的顯示在監(jiān)視器上。儀器在出廠之前已經(jīng)校正到*佳成像位置,一般情況下不需要進(jìn)行重新調(diào)整。

    干涉圖對(duì)比度調(diào)節(jié):當(dāng)待測表面鍍高反膜時(shí),干涉條紋對(duì)比度會(huì)較差,此時(shí)推薦選配衰減過濾片,將其插入待測元件與標(biāo)準(zhǔn)鏡之間衰減光強(qiáng),可獲得良好的條紋對(duì)比度。

 

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聯(lián)系人:楊毓

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