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優(yōu)質供應
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G200M型激光平面干涉儀 :為中國首款標準鏡有效口徑達到200mm的平面干涉儀，改善提高了大口徑光學系統(tǒng)和光學元件測試精度，彌補了國內使用有效口徑150mm的干涉儀測試大尺寸光學系統(tǒng)和光學元件，不能全口徑測試的不足。
主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試；準直系統(tǒng)波前質量的測試。
儀器規(guī)格參數(shù)表
| 產品型號 | G200M |
| 類型 | 菲索干涉原理 |
| 測試口徑 | ◇200mm |
| 標準鏡材料 | 熔石英（康寧7980） |
| 光源 | He-Ne激光（632.8nm） |
| 光路切換 | 對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換 |
| 顯示方式 | 計算機或獨立監(jiān)視器實時顯示 |
| 平面透過標準鏡 | PV：優(yōu)于λ/20，可定制更高精度標準鏡 |
| 平面反射標準鏡 | 標配 |
| 衰減過濾片 | 標配 |
| 儀器尺寸(長X寬X高) | 500X500X1100mm |
| 儀器重量 | 100KG |
| 電源 | AC100-240V 50/60Hz |
| （附注：更大口徑平面干涉儀可依據(jù)客戶需求定制） | |
儀器特點
| ◇ 精度高：標準鏡精度高，且材料經過精密退火處理，穩(wěn)定可靠；
◇ 結構靈活：立式和臥式兩種結構。立式適合測量光學元件，臥式適合測試光學系統(tǒng)；
◇ 調整方便：通過切換開關選擇對準與干涉場兩種顯示模式，方便調整；載物臺內外雙重俯仰調節(jié)機構，內置機構方便快速調節(jié)，方便長時間恒溫精密測量。
◇ 條紋真實：優(yōu)良的光學設計，精密的系統(tǒng)裝保證得到清晰、準確、真實的干涉條紋；
◇ 性能優(yōu)良：儀器具備良好的隔振性能，適合光學加工現(xiàn)場使用；
◇ 配件豐富：選配密封罩，可將測試腔與外界氣流隔離，降低測試過程中氣流擾動，提高判斷的準確性。選配衰減過濾片，可以測量鍍高反膜元件。G200M標配氣浮平臺，能夠滿足移相干涉儀條文分析要求
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