產(chǎn)品展示
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設(shè)計，適用于計量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)數(shù)字化測量。
G150S為G150M:的簡化版本，適合光學(xué)車間的現(xiàn)場檢驗。
主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的測試；準(zhǔn)直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測試。
儀器規(guī)格參數(shù)表
儀器特點
| 產(chǎn)品型號 | G150M | G150S |
| 有效通光口徑 | 152.4mm（6英寸） | |
| 測量方式 | 菲索干涉原理 | |
| 光源 | 氦氖激光（632.8nm） | 半導(dǎo)體激光器（635nm） |
| 連續(xù)變焦倍數(shù) | 1-6.7倍 | 固定倍率 |
| 光路切換 | 對準(zhǔn)（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換 | |
| 顯示方式 | 計算機(jī)或獨立監(jiān)視器實時顯示 | 監(jiān)視器實時顯示 |
| 平面透過標(biāo)準(zhǔn)鏡 | PV：優(yōu)于λ/20，可定制更高精度標(biāo)準(zhǔn)鏡 | |
| 平面反射標(biāo)準(zhǔn)鏡 | 標(biāo)配 | 選配 |
| 衰減過濾片 | 標(biāo)配 | 選配 |
| 儀器尺寸(長X寬X高) | 500X500X1070mm | |
| 儀器重量 | 80KG | |
| 電源 | AC100-240V 50/60Hz | |
| （附注：更大口徑平面干涉儀可依據(jù)客戶需求定制） | ||
儀器特點
| ◇ 精度高：標(biāo)準(zhǔn)鏡精度高，且材料經(jīng)過精密退火處理，穩(wěn)定可靠；
◇ 調(diào)整方便：可通過切換開關(guān)選擇對準(zhǔn)與干涉場兩種顯示模式，方便調(diào)整；
◇ 條紋真實：優(yōu)良的光學(xué)設(shè)計，精密的系統(tǒng)裝保證得到清晰、準(zhǔn)確、真實的干涉條紋；
◇ 性能優(yōu)良：儀器具備良好的隔振性能，適合光學(xué)加工現(xiàn)場使用；
◇ 配件豐富：標(biāo)配密封罩，可將測試腔與外界氣流隔離，降低測試過程中氣流擾動，提高判斷的準(zhǔn)確性。配合衰減過濾片，可以測量鍍高反膜元件。 |
