產(chǎn)品展示
優(yōu)質(zhì)供應
詳細內(nèi)容
關(guān)鍵詞：電導率，電阻率，高溫600℃，兩探針，四探針
HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統(tǒng)是一款用于測量材料電阻，電導率的用設備，采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的用的高溫測試系統(tǒng)，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線。
一、主要應用范圍：
1、 廣泛用于碳系導電材料的電阻率和電導率測量
2、 金屬系導電材料的電阻率和電導率測量
3、 金屬氧化物系導電材料的電阻率和電導率測量
4、 高分子導電材料的電阻率和電導率測量
5、 復合導電材料等材料的電阻率測量
6、 可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率
7、 符合標準：ASTM B193-02和GBT 6146-2010 、GBT15662-1995
8、 產(chǎn)品主要特點：
1、 高溫兩探針夾具與帶升降高溫測試平臺配合使用，組成高溫兩探針測試平臺；
2測溫熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，確保測量溫度與樣品溫度的一致性；
3、 采用緊湊型設計，體積小、結(jié)構(gòu)簡潔，操作簡單、方便；
4、 隔熱盤隔離樣品平臺與調(diào)節(jié)平臺，并與高溫測試平臺重合，具有理想的隔熱保溫效果；
5、 探針調(diào)節(jié)裝置具有三維精確調(diào)節(jié)功能，精確定位探針的位置；
6、 探針調(diào)節(jié)裝置具有粗調(diào)功能，有效增大探針的調(diào)節(jié)范圍；
7、 探針調(diào)節(jié)裝置帶探針壓力調(diào)節(jié)功能，確保探針與樣品的良好接觸，又不損傷樣品；
8、 探針采用帶同軸屏蔽層設計，減少電磁對測量的干擾；
9、 探針電選用鉑銥合金，有效減少接觸電阻，并具有良好的高溫抗氧化能力；
10、自帶校準件，與各測試儀器配套，校準測試夾具。
主要技術(shù)參數(shù)：
1、測量溫度范圍：RT~600℃或RT~800℃或RT~1200℃可選
2、測試探針：2個高溫高頻探針或4個高頻探針
3、電直徑：26.8mm
4、樣品大小：厚度小于10 mm，直徑5~40mm
5、溫控方式：恒溫、變溫、常溫
6、控溫精度：±0.4℃
7、電阻率：10nΩ-10MΩ
8、電阻：10nΩ-100MΩ
9、電導率：10-5 ～105 s/cm
10、重量：38KG
11、工作溫度：5℃至40℃
12、重量：15KG
13、可以配合任意型號Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同惠、 Keysight
等LCR表進行無縫結(jié)合
14、設備可以配合ZJ-3型和ZJ-6型壓電測試儀進行壓電D33系數(shù)測量
