借助 MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡，即可在數(shù)內(nèi)完成圖像采集，觀察清晰的原子分辨率圖像及進(jìn)行完整的三維表面測量與分析。無論是配備性能出色GEMINI I 鏡筒的入門型 MERLIN Compact 電鏡，或是配備高分辨率 GEMINI II鏡筒的型 MERLIN 電鏡，MERLIN 系列均是未來穩(wěn)固投資的*之選：場發(fā)射掃描電鏡協(xié)助您更好地應(yīng)對未來工作中的各種挑戰(zhàn)。15 個(gè)探測器端口和多個(gè)分析選擇，為用戶提供靈活性和擴(kuò)展性。

　　MERLIN 系列易于擴(kuò)展，以適應(yīng)不斷增長的需求

　　MERLIN 系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)可以采集高分辨圖像，做成份分析，獲取樣品全部信息。樣品室配有用于安裝探測器和多種分析功能選項(xiàng)的 15 個(gè)端口，協(xié)助您完成從圖像采集到完整的材料分析等一系列工作。根據(jù)應(yīng)用需求進(jìn)行功能擴(kuò)展：MERLIN 系列具備全面的可升性。

　　蔡司MERLIN系列場發(fā)射掃描電鏡應(yīng)用無限

　　使用原子力顯微鏡功能選項(xiàng)，以原子分辨率獲取半導(dǎo)體樣品的表面結(jié)構(gòu)信息。通過增加 3View® 超

　　微切機(jī)實(shí)現(xiàn)大體積生物樣本的三維重構(gòu)。MERLIN系列的平臺設(shè)計(jì)與智能化探測器技術(shù)，隨時(shí)可借助即插即用擴(kuò)展功能實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)升。開放式的系統(tǒng)軟件編程接口，可快速地整合市場上的分析解決方案。

　　全面便捷的樣品分析

　　MERLIN 系列的整套探測系統(tǒng)由不同探測器組成：in-lens 二次電子探測器用于高分辨率成像、能量選擇背散射探測器(EsB)用于低電壓成份襯度成像、in-lens duo 探測器用于二次電子和背散射電

　　子成像，或角度選擇背散射探測器(AsB)用于晶體表面的結(jié)構(gòu)分析。適合對各種材料進(jìn)行單獨(dú)的分析，或與探測器信號一起獲取更豐富的圖像信息。這些只需根據(jù)應(yīng)用選配一個(gè)或多個(gè)探測器便可實(shí)現(xiàn)。

　　原子力顯微鏡：獲取深度圖像

　　如若需要進(jìn)行納米表面成像，掃描電子顯微鏡(SEM)則是您的選擇。然而，所收集到的數(shù)據(jù)往往會缺失一些附加信息：表面三維結(jié)構(gòu)的呈現(xiàn)，或者是在低于納米的原子尺度上還需要什么信息?

　　整合了 AFM 功能的 MERLIN 系列讓這類問題迎刃而解。AFM 系統(tǒng)可借助樣品臺更換功能在幾分鐘內(nèi)提供原子表面形貌的三維圖像。由于 AFM 技術(shù)是在原子尺度上進(jìn)行校正的，可為掃描電子顯微鏡用戶提供所需分辨率。

　　蔡司MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品來源：

　　http://www.xyichuang.com.cn/Products-27324637.html

　　https://www.chem17.com/st331930/product_27324637.html

原創(chuàng)作者：河南良工機(jī)械設(shè)備有限公司