產(chǎn)品展示
紫外可見分光光度計(jì)
點(diǎn)擊次數(shù)：991發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：上海
產(chǎn)品型號(hào)：75系列
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
功能
自動(dòng)波長，鍵盤輸入，波長設(shè)定和轉(zhuǎn)換更快速。
一階過零、濃度直讀測(cè)試（752）*多可建立12個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線，標(biāo)定曲線擬合度，可保存50條曲線參數(shù)，可保存200條測(cè)試記錄。
系統(tǒng)時(shí)鐘管理，燈源管理，USB數(shù)據(jù)接口。
暗電流校正，波長校正，燈切換波長設(shè)置。
UV-Solution工作站軟件，具有各種測(cè)試、掃描功能（756PC）
型號(hào) | 752 | 754 | 756PC |
帶寬 | 4nm | 4nm | 2nm |
波長范圍 | 200～1000nm（步進(jìn)間隔0.1nm） | 190～1100nm（步進(jìn)間隔0.1nm） | 190～1100nm（步進(jìn)間隔0.1nm） |
波長準(zhǔn)確度 | ±2.0nm（開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)） | ±1.0nm（開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)） | ±1.0nm（開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)） |
波長重復(fù)性 | 1nm | 0.5nm | 0.5nm |
測(cè)定范圍 | T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F(xiàn)：0～9999，C：0～9999 | ||
透射比準(zhǔn)確度 | ±0.5%T | ||
透射比重復(fù)性 | ±0.2%T | ||
雜散光 | ≤0.5%T（在220nm、340nm處） | ≤0.3%T（在220nm、340nm處） | ≤0.15%T（在220nm、340nm處） |
基線直線性 | / | / | ±0.004A |
穩(wěn)定性/基線漂移 | ±0.003A/h | ±0.002A/h | ±0.002A/h |
顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 | ||
外形尺寸：456＊375＊220（mm）
軟件功能說明
軟件型號(hào) | 適用儀器 | 軟件功能 |
UV-Solution | 756PC | 定量測(cè)試：可進(jìn)行一、二、三階擬合標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試，*多可通過20個(gè)標(biāo)樣建立標(biāo)準(zhǔn)曲線�？蛇x擇單波長，雙波長或三波長條件下測(cè)試。 動(dòng)力學(xué)測(cè)試：對(duì)樣品進(jìn)行時(shí)間掃描，測(cè)試時(shí)間可達(dá)7天。采樣時(shí)間0.5、1、2、5、10、30、60秒可選，可保存10000條測(cè)試數(shù)據(jù)。 波長掃描：在任意波長范圍內(nèi)以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的掃描間隔對(duì)樣品進(jìn)行掃描，并對(duì)圖譜進(jìn)行縮放、平滑、四則運(yùn)算、坐標(biāo)調(diào)整、峰/谷自動(dòng)檢測(cè)、1~4階導(dǎo)數(shù)等數(shù)據(jù)處理，可容納八個(gè)掃描圖譜。 多波長測(cè)試：*多可設(shè)置15個(gè)測(cè)試波長點(diǎn)。 數(shù)據(jù)導(dǎo)出：數(shù)據(jù)和圖譜可導(dǎo)出為txt和bmp格式文件供用戶編輯。 附功能：核糖核酸/蛋白質(zhì)測(cè)量:快速測(cè)量DNA樣品在特定波長下的吸光度，自動(dòng)計(jì)算樣品濃度及DNA Ratio。 |
數(shù)據(jù)處理軟件 | 722、7230G、752、754 | 進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試和數(shù)據(jù)處理 |
