連續(xù)剛度測量(CSM)

　　CSM技術(shù)包括在壓痕過程中測量力學性能隨深度、力、時間或頻率變化的函數(shù)。該方案采用恒定應變速率試驗，測量硬度和模量作為深度或載荷的函數(shù)，是學術(shù)界和工業(yè)界常用的試驗方法。CSM還用于其他高測試，包括用于存儲和損耗模量測量的ProbeDMA™方法和AccuFilm™基底立測量。CSM集成在控制器和InView軟件中，以保證數(shù)據(jù)質(zhì)量。

　　NanoBlitz3D

　　NanoBlitz 3D利用Inforce 50加載器采用玻氏壓頭測量高E(>3Gpa)材料的三維測量圖。NanoBlitz壓痕小于1個點/ s，可達10萬個壓痕(300x300陣列)，并提供每個壓痕在載荷下的楊氏模量、硬度和剛度，大量的測試提高了統(tǒng)計的準確性。NanoBlitz 3D還提供可視化軟件和數(shù)據(jù)處理功能。

　　AccuFilm™薄膜方法包

　　AccuFilm™薄膜方法包是一種基于Hay-Crawford模型的全新測試方法，使用連續(xù)剛度測量(CSM)測量基底材料的立特性。AccuFilm™修正了基底對軟基板上硬薄膜以及硬基底上軟薄膜測量的影響。

　　ProbeDMA™聚合物方法包

　　聚合物包可以測量聚合物的模量對頻率的函數(shù)。該測試包括平?jīng)_頭、粘彈性參考材料和評價粘彈性性能的試驗方法。這種測量技術(shù)是表征納米聚合物和聚合物薄膜的關(guān)鍵技術(shù)，而傳統(tǒng)的DMA測試儀器無法很好地測試這些薄膜。

　　劃痕磨損試驗功能

　　劃痕試驗在以規(guī)定速度穿過樣品表面時，向壓頭施加恒定或傾斜載荷。劃痕試驗可以表征許多材料系統(tǒng)，如薄膜、易碎陶瓷和聚合物。

　　DataBurst

　　DataBurst集成InView軟件和InQuest控制器系統(tǒng)，采用大于1kHz的速率記錄位移數(shù)據(jù)，以測量高應變跳躍載荷的突變實驗。特別適用于瞬間斷裂、壓爆瞬間采集大量數(shù)據(jù)的測試實驗。

　　Gemini 2D多軸傳感器

　　Gemini 2D 多軸技術(shù)將相同的標準壓痕功能帶到第二個橫軸上，同時沿兩個方向軸運行。該用技術(shù)有助于深入了解材料特性和失效機制，可以測量泊松比、摩擦系數(shù)、劃痕、磨損、剪切等參數(shù)。

　　納米壓痕儀產(chǎn)品來源：

　　http://www.natengyiqi.com/ParentList-2338788.html

　　https://www.chem17.com/st125795/list_2338788.html

原創(chuàng)作者：蘇州國朗設(shè)備制造有限公司