離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ～1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

　　產(chǎn)品優(yōu)勢

　　1.簡單/便利

　　△采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測，測試時(shí)焊接工序大幅減少。

　　△軟件設(shè)計(jì)簡單明了，能夠非常直觀得操作。

　　△配有過程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。

　　△測試中，設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行，電腦電源切斷也不受影響。

　　2.高性能&高機(jī)能

　　△因?yàn)槊總�(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測電路，可以做到16ms的計(jì)測間隔。

　　→遷移現(xiàn)象的檢測能力更高，對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

　　△一臺(tái)電腦大可以增設(shè)400通道。

　　△每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。

　　絕緣劣化試驗(yàn)產(chǎn)品來源：

　　https://www.ybzhan.cn/st133409/list_793409.html

　　http://www.sz-skyan.com/Products-13879487.html

原創(chuàng)作者：蘇州國朗設(shè)備制造有限公司