美國(guó)MDC公司的CSM/Win系列C-V測(cè)試儀包含了單頻、多頻電容電導(dǎo)儀和準(zhǔn)靜態(tài)電容表。對(duì)于任意一種類型的儀表，都可以根據(jù)需要來(lái)選擇它的精度和電壓范圍。 

MDC公司的C-V測(cè)試系統(tǒng)不僅僅可以測(cè)量半導(dǎo)體材料的電容電導(dǎo)（capacitance and conductance）特性，還包括電流電壓（current-voltage ）測(cè)試、 柵氧損耗（gate oxide integrity）、高級(jí)MOS電荷分析（advanced MOS charge analysis）、表面陷阱電荷密度（interface trap density）、介電常數(shù)（dielectric constant）和TVS分析（Triangular Voltage Sweep analysis）等等。另外，也只有MDC公司才可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)其特殊應(yīng)用的需求。我們可以根據(jù)用戶的需要來(lái)定制軟件和硬件系統(tǒng)，用以滿足不同客戶的需求。

有兩種平臺(tái)：水銀（汞）探針（Mercury Probe）、熱吸盤（Hot Chuck）可供選擇。