產(chǎn)品展示
晶體測(cè)試儀
點(diǎn)擊次數(shù)：145發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：深圳
產(chǎn)品型號(hào)：XT-150D 晶體測(cè)試儀
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
主要測(cè)試項(xiàng)目：
1． 晶體的串聯(lián)諧振頻率FS。
2． 晶體的負(fù)載諧振頻率FL。
3． 晶體的串聯(lián)諧振電阻RR。
4． 晶體的負(fù)載諧振電阻RL。
5． 晶體的靜電容C0。
6． 晶體的負(fù)載電容CL。
7． 晶體的頻差ppm或KHz。
技術(shù)指標(biāo)：
1． 晶體頻率測(cè)量范圍：3―――６０ＭＨｚ。
2． 等效電阻測(cè)量范圍：０―――２００Ω。
3． 靜電容測(cè)量范圍： ０―――２０ＰＦ。
4． 負(fù)載電容的調(diào)整范圍：１０―――４０ＰＦ。
5． 激勵(lì)電平的調(diào)整范圍：１０―――５００ｕＷ。
6． 晶體等效電阻的測(cè)量誤差：≤５％。
7． 激勵(lì)電平誤差： ≤５０％。
8． 工作溫度范圍： �。保胆D――＋３５℃。
9． 時(shí)基穩(wěn)定度（10MHz）： 5×10-7
10． 電源電壓： �。玻玻埃謅c�。保埃�。
11． 功耗： ≤１５W。
