產(chǎn)品展示
金屬，半導(dǎo)體阻抗測(cè)定裝置
點(diǎn)擊次數(shù)：744發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：2009/8/6 9:18:19
所 在 地：日本
產(chǎn)品型號(hào)：TER系列
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
金屬，半導(dǎo)體阻抗測(cè)定裝置
對(duì)于金屬的相變，時(shí)效析出，再結(jié)晶反應(yīng)
本裝置是用直流四端子法，精密地測(cè)量金屬合金，半導(dǎo)體的電阻。
●用途
對(duì)于金屬相變，時(shí)效析出，再結(jié)晶的過(guò)程研究。
對(duì)于無(wú)形金屬的再結(jié)晶的過(guò)程分析。
對(duì)于記憶形合金的研究。
測(cè)定各種半導(dǎo)體材料的溫度VS電阻的關(guān)系。
●特長(zhǎng)
可在定速升溫，定溫保持過(guò)程中測(cè)量材料電阻。
用直流四端子法進(jìn)行高精度測(cè)量。
無(wú)熱起電的影響。
●技術(shù)指標(biāo)
測(cè)定溫度范圍 | ①-150～200℃ ②室溫～1400℃ |
測(cè)定方式 | 自流四端子法 |
測(cè)定范圍 | 100Ω～5×10-5 Ω |
試樣臺(tái) | φ10mm×100mm |
測(cè)定氣氛 | 不活性氣體，大氣，真空 |
