產(chǎn)品展示
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
斷熱型比熱測定裝置SH系列
比熱容量，潛熱，變態(tài)點(diǎn)的測定
本裝置是根據(jù)長崎減三，高木豐兩位博士在1945年研究的測定方法而開發(fā)的設(shè)備。用獨(dú)自研發(fā)的斷熱控制方式精確地測出熱容量，潛熱，變態(tài)點(diǎn)等。
●用途
對于各種材料的比熱測定。
對于高分子材料的玻璃轉(zhuǎn)移的測定。
對于固體反應(yīng)，來自固體的液體反應(yīng)速度的分析。
●特長
由于采用了斷熱控制，在基本平衡狀態(tài)下進(jìn)行測定。
基于比熱容量測定原理，由內(nèi)部微型加熱器施加焦?fàn)枱幔_地測出試樣溫度的上升。
●技術(shù)指標(biāo)
溫度范圍 | 1.50～800℃ 2.室溫-150～100℃ |
試樣尺寸 | φ20/18mm×20mm長 |
測定溫度間隔 | 1，2，5，10℃ |
測定制度 | ±3％以內(nèi)（一部±5％の溫度區(qū)間あり） |
測定氣氛 | 不活性氣體，（300℃大氣中） |
