產(chǎn)品展示
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
—100nm以下納米級(jí)紅外光譜分析
美國(guó)Anasys公司的納米紅外光譜系列包含有一個(gè)原子力顯微鏡用于探測(cè)形貌及成像，除此之外，采用一個(gè)可調(diào)脈沖激光源照射樣品，利用AFM針尖在納米尺度下探測(cè)輻射吸收，獲得納米尺度紅外光譜(空間分辨率<100nm) 。特定波長(zhǎng)下的掃描成像圖為用戶提供超高分辨率的組分分布。
圖1 納米紅外光譜二代工作原理
納米紅外光譜系列二代產(chǎn)品（nanoIR2）采用側(cè)面入射光模式，大大簡(jiǎn)化制樣過(guò)程，操作更加便捷，大大擴(kuò)展了納米紅外光譜的使用范圍。為了滿足超薄薄膜的測(cè)試需求，獨(dú)創(chuàng)技術(shù)-共振增強(qiáng)模式極大提高了納米紅外光譜的垂直靈敏度，使厚度20nm以下薄膜的光譜分析成為可能(見圖1)。
納米紅外光譜廣泛的應(yīng)用在大量軟質(zhì)物質(zhì)的研究中，如聚合物共混物、薄至單層的薄膜、界面和表面、電紡纖維、細(xì)胞、細(xì)菌、淀粉質(zhì)物質(zhì)等。
nanoIR2的主要特點(diǎn)：
□ 簡(jiǎn)化制樣過(guò)程，操作便捷
□ 納米級(jí)空間分辨率（<100nm）的光譜分析
□ 高清晰紅外吸收成像
□ 快速光譜測(cè)試，每條譜線采集時(shí)間~1min
□ 準(zhǔn)確可解析的紅外光譜，可以使用商業(yè)的IR數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行化學(xué)鑒定
□ 超高垂直靈敏度，可以進(jìn)行超薄薄膜和單層膜的光譜測(cè)試
□ 多功能、互補(bǔ)的測(cè)試，可以獲得納米尺寸度下表面形貌、機(jī)械性能、熱性和化學(xué)信息之間的相關(guān)性
技術(shù)參數(shù)：
| 納米紅外光譜二代(nanoIR2) | 共振增強(qiáng)納米紅外光譜二代（nanoIR2） | |
| 激光可調(diào)范圍 | 900~2000cm-1，2250~3600cm-1 | 1200~1800cm-1 |
| 紅外光源線寬 | 平均4cm-1 | 1cm-1 FWHM |
| *小樣品厚度 | >50nm | <20nm |
| 納米機(jī)械性能成像 | 可以，通過(guò)接觸共振模式 | 不可以 |
| IR吸收成像 | 可以， | 不可以 |
| 單層膜測(cè)量 | 不可以 | 可以 |
| 入射光模式 | 紅外光從樣品上方入射(nanoIR2) | |
| 測(cè)量技術(shù) | 光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR） | |
| 檢測(cè)量 | 紅外光吸收 | |
| XY方向掃描范圍 | 80x80um | |
| Z方向掃描范圍 | >7um | |
| 空間分辨率 | 20~100nm | |
| 點(diǎn)光譜測(cè)量時(shí)間 | 約1分鐘 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)成像模式 | 接觸模式；輕敲模式；力曲線模式；力調(diào)制模式 | |
| 可選成像模式 | 納米熱分析(nanoTA)；洛倫茲接觸共振(LCR)；掃描熱顯微鏡(SThM)； 導(dǎo)電原子力模式（CAFM）；其他模式可增加 | |
應(yīng)用案例
| 半導(dǎo)體器件的化學(xué)分析
半導(dǎo)體器件各層的nanoIR2測(cè)量。測(cè)試結(jié)果揭示了化學(xué)組分的多樣性，傳統(tǒng)的紅外光譜無(wú)法進(jìn)行這種測(cè)量。
聚合物混合物的界面分析
碳纖維-環(huán)氧樹脂復(fù)合材料的nanoIR2測(cè)量揭示了纖維/環(huán)氧樹脂界面化學(xué)組分的多樣性。
金屬表面的有機(jī)污漬
共振增強(qiáng)模式測(cè)試磁盤上的納米級(jí)有機(jī)污染物的紅外光譜。污染物顆粒的尺寸約為100nm×100nm×28nm。
顯微切片的碳粉顆粒
調(diào)色劑顆粒是一種復(fù)雜的多組分混合物，nanoIR2可以在納米級(jí)分辨率下對(duì)這些組分進(jìn)行鑒定。
礦物中的碳?xì)浠衔?/span>
AFM形貌圖（左圖）和紅外吸收?qǐng)D（右圖），通過(guò)探測(cè)CH鍵的吸收確定碳?xì)浠衔锏姆植肌?/span>
聚合物超薄薄膜
共振增強(qiáng)模式能夠?qū)Ψ浅１〉谋∧みM(jìn)行高質(zhì)量的測(cè)量。上圖為20nm厚PMMA薄膜的nanoIR2測(cè)量結(jié)果。 |
