—100nm以下納米級紅外光譜分析  

美國Anasys公司的納米紅外光譜系列包含有一個原子力顯微鏡用于探測形貌及成像，除此之外，采用一個可調(diào)脈沖激光源照射樣品，利用AFM針尖在納米尺度下探測輻射吸收，獲得納米尺度紅外光譜(空間分辨率<100nm) 。特定波長下的掃描成像圖為用戶提供超高分辨率的組分分布。

圖1 納米紅外光譜二代工作原理

納米紅外光譜系列二代產(chǎn)品（nanoIR2）采用側(cè)面入射光模式，大大簡化制樣過程，操作更加便捷，大大擴(kuò)展了納米紅外光譜的使用范圍。為了滿足超薄薄膜的測試需求，獨(dú)創(chuàng)技術(shù)-共振增強(qiáng)模式極大提高了納米紅外光譜的垂直靈敏度，使厚度20nm以下薄膜的光譜分析成為可能(見圖1)。

納米紅外光譜廣泛的應(yīng)用在大量軟質(zhì)物質(zhì)的研究中，如聚合物共混物、薄至單層的薄膜、界面和表面、電紡纖維、細(xì)胞、細(xì)菌、淀粉質(zhì)物質(zhì)等。

nanoIR2的主要特點：

□ 簡化制樣過程，操作便捷

□ 納米級空間分辨率（<100nm）的光譜分析

□ 高清晰紅外吸收成像

□ 快速光譜測試，每條譜線采集時間~1min

□ 準(zhǔn)確可解析的紅外光譜，可以使用商業(yè)的IR數(shù)據(jù)庫進(jìn)行化學(xué)鑒定

□ 超高垂直靈敏度，可以進(jìn)行超薄薄膜和單層膜的光譜測試

□ 多功能、互補(bǔ)的測試，可以獲得納米尺寸度下表面形貌、機(jī)械性能、熱性和化學(xué)信息之間的相關(guān)性

技術(shù)參數(shù)：

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