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產(chǎn)品展示

智能卡動態(tài)彎扭試驗機

點擊次數(shù):57發(fā)布時間:2014/7/10 17:01:34

智能卡動態(tài)彎扭試驗機

更新日期:2014/12/29 10:04:35

所 在 地:中國大陸

產(chǎn)品型號:HY(IC)

簡單介紹:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細內(nèi)容

 

HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機

技 術(shù) 參 數(shù)
配 置
 
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次                                         
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊*小位移量為2mm±0.50mm,
短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊*小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸完全按照國家標準執(zhí)行。
 
 
1、IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺;
2、配置:
1)常用調(diào)試工具套:
2)臺灣STK交流調(diào)速電機系統(tǒng)一套;
3)臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套;
4)高精度光電計數(shù)器一套
4)臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套;
3、產(chǎn)品用途:
   用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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